Регистрация / Вход
Прислать материал

Исследование основных параметрических зависимостей вторичной электронной эмиссии.

ФИО
Мефодьев Александр Олегович
Электронная почта
a73ac261sashamef@gmail.com
Номинация
Нанотехнологии
Институт
Новых материалов и нанотехнологий (ИНМиН)
Кафедра
Технологии материалов электроники
ФИО научного руководителя
к.т.н., доц. Курочка Сергей Петрович
Академическая группа
МКТ-12-1
Наименование тезиса
Исследование основных параметрических зависимостей вторичной электронной эмиссии.
Тезис

Вторичная электронная эмиссия - это испускание электронов твердым телом под действием бомбардировки его поверхности потоком электронов от постороннего источника. Электроны, которые бомбардируют поверхность твердого тела, называют первичными, а электроны, испускаемые из него – вторичными. Вторичная эмиссия характеризуется коэффициентом вторичной эмиссии σ, который равен отношению числа вторичных электронов n2 к числу первичных n1.

В нашей работе была разработана конструкция макета и определения основных параметров вторичной электронной эмиссии.

Существуют несколько методов измерения плотности тока луча в поперечном сечении. В ряде методов для этой цели используют экраны, расположенные на пути пучка и покрытые люминофором, светящимся под действием электронной бомбардировки.

Более точным и универсальным, хотя конструктивно и более сложным, является метод измерения плотности пучка, при котором исследуемый пучок падает на металлическую мишень с очень малым отверстием. Поток, проходящий через это отверстие, падает на коллектор и служит мерой плотности тока в месте расположения отверстия. Передвигая мишень, можно получить распределение плотности тока в поперечном сечении пучка. Диаметр пучка и распределение плотности тока в его поперечном сечении можно также определить и методом измерения тока, идущего на тонкие проволоки, помещенные на пути пучка. Электронный луч с помощью отклоняющей системы перемещается в направлении нормальном этим проволокам.