Исследование стресс чувствительности аморфных микропроводов на основе Fe и Со

Использование в качестве стресс чувствительных элементов аморфных ферромагнитных микропроводов позволит их использовать в качестве рабочих элементов датчиков напряжения, осуществляющих контроль напряженного состояния в локальных зонах конструкций и узлов, изготовленных из этих материалов, т.е. вести мониторинг внутреннего состояния материала с помощью неразрушающего метода контроля в реальном времени.

Система ПМ-10 предназначена для исследований и детектирования сигналов перемагничивания малоразмерных отрезков аморфных ферромагнитных микропроводов в электромагнитном поле переменной частоты, создаваемом вблизи рабочей поверхности регистрирующего планшета.

Эксперимент состоит в фиксации с помощью  осциллографа на фоне основного шумового сигнала коротких импульсов, связанных с перемагничиванием метки под действием возбуждающего магнитного поля при приближении тестовой магнитной метки к плоскости планшета .

В качестве меток использовали отрезки аморфных ферромагнитных микропроводов длиной 1см. Для удобства работы с отрезками их наклеивали на бумажный или пластиковый носитель. Измерения проводили на фиксированном расстоянии (5 мм) от рабочей поверхности регистрирующего планшета на основной  частоте 300 Гц в поле 500мВ.

Были получены зависимости величины напряжения от деформации и зависимости напряжения от d/D (соотношений диаметров металлической и стеклянной жил) для микропроводов на основе железа и кобальта.

Научный руководитель - к.ф-м.н. Чурюканова М.Н.