Прогнозирование срока службы светодиодов со структурой AlGaN/InGaN/GaN
Получены экспериментальные данные по снижению светового потока светодиодов белого свечения на основе гетероструктур AlGaN/InGaN/GaN при различных прямых токах, рисунок 1. Установлено, что деградация светового потока происходит вследствие образования точечных дефектов в области квантовых ям, генерируемых горячими электронами. Спад светового потока подчиняется спадающей экспоненциальной зависимости, для которой выведено аналитическое выражение. Исследованию подвергались серийные светодиоды белого свечения фирмы Cree C503D-WAN-CCBD231 на основе кристаллов с гетероструктурой AlGaN/InGaN/GaN с квантовыми ямами.
Рисунок 1 - Временные зависимости светового потока при прямых токах:
1) 20 мА; 2) 50 мА; 3) 90 мА.
В общем случае дифференциальное уравнение изменения светового потока можно записать в виде
dL/dt=-kLL , (1)
где L – световой поток, кL – коэффициент с размерностью 1/с.
Если принять, что концентрация центров излучения равна NL, а концентрация атомов решетки Nо, то скорость убывания центров люминесценции будет пропорциональна отношению NL/Nо и скорости образования безызлучательных центров вследствие генерации точечных дефектов в области квантовых ям Ud, т.е.
kL=UdNL/No . (2)
Световой поток пропорционален концентрации излучательных центров, то выражение для его зависимости от времени примет вид
L(t)=Loexp(-kLt) . (3)
Научный руководитель - проф.,д.ф.-м.н. Маняхин Федор Иванович