Магнитно-силовая микроскопия оксидных магнетиков

Метод магнитно-силовой микроскопии (МСМ) находит широкое применение в исследованиях магнитных свойств поверхности твердых тел, в особенности магнитных наноструктур, а также устройств постоянной магнитной памяти (магнитных дисков, лент и т. п.). Этот метод позволяет получать карту пространственного распределения магнитных моментов на поверхности образца в нанометровом масштабе.

МСМ позволяет визуализировать поля рассеяния, создаваемые доменами и доменными стенками вблизи поверхности образца. Если быть точнее, изображение, получаемое с помощью МСМ, отражает распределение второй производной магнитного поля по нормали к поверхности. В то же время конечной целью исследования является, как правило, определение структуры намагниченности внутри образца.

По сравнению с поляризационной магнитооптикой магнитно-силовая микроскопия обеспечивает достаточно высокое разрешение, что несомненно, является ее главным преимуществом. Два основных недостатка МСМ также очевидны: это большое время, необходимое для получения изображения, и возможность искажения исследуемой доменной структуры под действием магнитного поля зонда. Эти недостатки в определенной степени взаимосвязаны: чтобы уменьшить влияние зонда приходится уменьшать его магнитный момент (использовать более тонкое магнитное покрытие). Это, в свою очередь, понижает чувствительность и заставляет использовать более узкополосную фильтрацию сигналов и увеличить время сканирования.

Научный руководитель – д.ф.-м.н., проф. Костишин В. Г., асп. Тимофеев А. В.