Разработка автоматизированной системы диагностики контура охлаждения вакуумной индукционной печи о наличии протечек.
Аннотация
Данная работа является анализом последних достижений в области мониторинга температуры с помощью оптоволоконных датчиков. На основании изучения данных приведены достоинства и недостатки рассмотренной системы автоматизации.
1. Введение.
В работе рассматривался процесс автоматизации процесса диагностики охлаждающего контура вакуумной индукционной печи посредством оптоволоконного датчика температуры. Данная система обладает высокой точностью измерения, невысокой ценой и высокой надёжностью.
2. Теоретическая часть.
В основе процесса измерения температуры с помощью оптоволоконного кабеля лежит эффект Рамана. Это эффект неупругого рассеивания электромагнитного излучения на узлах кристаллической решётки оптоволоконного кабеля, который позволяет при анализе отражённого рассеянного излучения очень точно определить температуру в любой точке по всей длине оптоволоконного кабеля.
3. Экспериментальная установка.
На рисунке 1 приведена блок-схема прибора для измерения температуры по средствам оптоволоконного кабеля. Источником излучения служит лазер, который подаёт импульсные сигналы на измеряемое оптоволокно, после чего световой сигнал превращается в электрический, и проходя дальнейшую обработку служит основой для получения данных об изменениях температуры по всей длине измеряемого оптоволокна.
Рисунок 1. Схема измерительного прибора
4. Выводы.
В данной работе был проведен анализ контроля, используемый для диагностики вакуумной индукционной печи. Были изучены системы автоматизированного контроля, на основе которых был разработан и предложен метод оптоволоконного контроля температуры контура охлаждения индукционной печи.
5. Список литературы.
- Ф.Н.Сарапулов, Л.И Иванова, Л.С.Гробова, Б.А.Сокунов “Индукционные тигельные печи”, 2002
- Волоконно-оптические датчики. Вводный курс для инженеров и научных работников: Пер.с англ./ Под. ред. Э. Удда. - М.: Техносфера, 2008. – 520 с.
- Advanced Cyclic Coding Technique for Long-Range Raman DTS Systems with Meter-Scale Spatial Resolution over Standard SMF. A. Lazzeri, F.Baronti, 2009
Рисунок 1. Схема измерительного прибора