Усилительные и оптические свойства полупроводникового лазерного диода на основе упругонапряженных квантовых ям InGaAs/InGaAlAs, излучающих вблизи 1550 нм
Задачи проекта: определить напряжение несоответствия между кристаллическими решетками квантовой ямы и подложки, необходимое для устойчивой лазерной генерации; определить необходимое число квантовых ям исходя из данных по оптическому усилению и потерям; определить длину резонатора полоскового лазера; определить пороговую плотность тока.
В оптических аналого-цифровых преобразователях требуется источник световых импульсов, стабильный пр амплитуды и частоте повторения. Полупроводниковые лазеры с пассивной синхронизацией мод отвечают этим требованиям и позволяют получать оптические импульсы с частотами повторения от 5 до 250 ГГц. Первым шагом для создания лазера с пассивной синхронизацией мод является создание активной области полупроводникового лазера полосковой конструкции, излучающего на длине волны 1550 нм [1-4]. Считается, что быстродействие лазерных диодов напрямую связано с величиной дифференциального усиления квантовой ямы, которое можно изменять путем увеличения или уменьшения параметра несоответсвия решеток в упругонапряженных гетероструктурах [5,6].
Методом молекулярно-пучковой эпитаксии на промышленной установке Riber MBE49 был выращен набор гетероструктур на подложках из InP (100) с несоответствием кристаллических решеток +1,0% (С1), +1,3%(С2), +1,6%(С3) и +2,0%(С4 и С5) и толщиной 3,2, 2,7, 2,5, и 1,9 нм соответственно. Методом фотолюминесценции (ФЛ) при плотности мощности возбуждающего лазера 58 и 580 Вт/см2 были измерены максимум и ширина спектра для каждого образца.
Для исследования характеристик оптического усиления созданных активных областей были изготовлены две лазерные гетероструктуры, содержащие 5 (структура 1) и 8 (структура 2) квантовых ям (КЯ) In0,67Ga0,33As, разделенных барьерами In0,53Al0,20Ga0,27As с параметром несоответствия 1%. Ширина волновода составляла 0,6 мкм, области толщиной 0,1 мкм, прилегающие к эмиттерным слоям, были легированы до уровня 1018 для сглаживания эффекта границы гетероперехода. Эмиттеры InAlAs, согласованные по параметру решётки с InP, толщиной 2 мкм (p-эмиттер) и 1 мкм (n-эмиттер) легировались С и Si для достижения концентрации носитилей заряда на уровне 3∙1018 см-3. Из гетероструктур были изготовлены лазерные диоды полосковой конструкции с шириной полоска 60 мкм в геометрии мелкой мезы с различной длиной резонатора. Зеркала резонатора были получены скалыванием. Образцы крепились на медный теплоотвод эпитаксиальными слоями вниз. Приборные характеристики исследовались в при комнатной температуре и при возбуждении импульсами тока длительностью 300 нс частотой 1 кГц.
На рисунке 1 представлены спектры фотолюминесценции (ФЛ) для образцов С1-С5. Ширина пиков ФЛ на полувысоте имеет тенденцию к увеличению по мере увеличения параметра несоответствия, что может быть объяснено развитием морфологии поверхности и/или возникновением в квантовых ямаъ самоорганизующихся областей, обогащенных индием. Полуширина пика ФЛ при плотности мощности возбуждающего лазера 5.8 Вт/см2 составила 25, 31, 43 и 50 мэВ для образцов C1, C2, C3 и C5, соответственно. В спектре ФЛ образца C3 наблюдается низкоэнергетическая затяжка, которая в образце C4 трансформируется в дополнительный отдельный длинноволновый пик. Обнаруженные особенности, по предположению, связаны с приближением для образца С3 (5 КЯ, +1,6%) и превышением в образце С4 (5 КЯ, +2,0%) критической величины упругого напряжения и резким усилением эффекта возникновения в слоях КЯ самоорганизующихся областей, обогащенных индием, особенно для случая, когда несоответствие составляет +2,0%.
Рисунок 1 - Спектры фотолюминесценции гетероструктур С1–С5 при плотности мощности излучения 580 Вт/см2 (a) и 58 Вт/см2 (b)
На рис. 2 представлена зависимость пороговой плотности тока и длины волны лазерной генерации от длины резонатора для лазеров с 5 и 8 КЯ. Пороговая генерация наблюдалась для всех полосков с различными длинами резонатора в диапазоне 0.25-2.00 мм. Лазеры излучали когерентное излучение в диапазоне 1.56-1.60 мкм. Минимальные значения пороговой плотности тока 1650-1660 A/см2 закономерно были продемонстрировано наиболее длинными лазерами, с длиной резонатора 2.0 мм, для обеих исследованных гетероструктур.
Рисунок 2 - Зависимость пороговой плотности тока и длины волны лазерной генерации от длины резонатора для Структуры 1 (а) и Cтруктуры 2 (b).
Характерные спектры многомодовой генерации приведены на рис. 3a. На рис. 3b представлены зависимости обратной внешней дифференциальной квантовой эффективности от длины резонатора для лазеров, изготовленных из обеих гетероструктур.
Рисунок 3 - Характерные спектры многомодовой генерации для лазерных структур (a) и зависимость обратной внешней дифференциальной квантовой эффективности от длины резонатора (b).
Зависимости величины усиления от плотности тока накачки в лазерных диодах с 5 и 8 КЯ в полулогарифмических координатах приведены на рис. 4. Исследуемые приборы продемонстрировали высокие значения порогового усиления вплоть до значения 175 см-1.
Рисунок 4 - Зависимость величины усиления от плотности тока накачки в структурах
Результаты исследованиях пороговых и усилительных характеристик показали, что исследуемые КЯ продемонстрировали достаточно высокое значение коэффициента модового усиления – 11 см-1 и достаточно низкое значение плотности тока прозрачности – 46 А/см2 на одну КЯ.
Благодарим за поддержку Министерство образования и науки РФ, соглашение № 14.581.21.0013 от 4 августа 2015 г., уникальный идентификатор RFMEFI58115X0013
[2] H. Temkin, T. Tanbun-Ek, and R. A. Logan, Appl. Phys. Lett. 56, 1210 (1990).
[3] G. Liu and S. L. Chuang, IEEE J. Quantum Electron. 37, 1283 (2001).
[4] P. J. A. Thijs, L. F. Dongen, P. I. Tiemeijer, J. J. Kuindersma, M. Binsma, and T. Van Dongen, IEEE J. Quantum Electron. 27, 1426 (1991).
[5] I. Suemune, IEEE J. Quantum Electron. 27, 1149 (1991).
[6] Z. C. Vahala K. J., Appl. Phys. Lett. 59, 3230 (1991).