Регистрация / Вход
Прислать материал

Создание методов и средств аттестации и калибровки приборов диагностики геометрических параметров нанорельефа поверхности кристаллических материалов

Шифр лота
2005-ИН-13.3/008
Количество поданных заявок
3
Статус лота
Конкурс завершен
Способ размещения заказа
Информация отсутствует
Дата вскрытия
01.08.2005
Продолжительность работ
2005 - 2006, 23 мес.
Бюджетные средства
8 млн
Внебюджетные средства
3 млн

создание методов и средств аттестации и калибровки приборов диагностики геометрических параметров нанорельефа поверхности (растровых электронных и сканирующих зондовых микроскопов) с абсолютной привязкой к государственному первичному эталону метра: эталонного комплекса, стандартизованных специальных мер и методов, обеспечивающих передачу размера единицы длины от эталона метра рабочим средствам измерений с погрешностью не более 0,5 нм. Разработка, утверждение Федеральным агентством по техническому регулированию и метрологии и введение в действие национальных стандартов, регламентирующих единство линейных измерений в нано- и субмикрометровом диапазонах.

Заявки
Тема
Создание методов и средств аттестации и калибровки приборов диагностики геометрических параметров нанорельефа поверхности кристаллических материалов
Исполнитель
АО "НИЦПВ"
Статус
Победитель
Номер заявки
Заявка №2005-ИН-13.3/008/011
Создание методов и средств аттестации и калибровки приборов диагностики геометрических параметров нанорельефа поверхности кристаллических материалов
Тема
Создание методов и средств аттестации и калибровки приборов диагностики геометрических параметров нанорельефа поверхности кристаллических материалов
Статус
Конкурс завершен
Номер заявки
Заявка №2005-ИН-13.3/008-008

  Другие заявки (1)

Программа

Программа "Исследования и разработки по приоритетным направлениям развития науки и техники" на 2002-2006 годы

Программное мероприятие

1.3 Прикладные разработки в рамках системы приоритетных направлений
Тема
Разработка и создание специализированного эталонного комплекса для аттестации и контроля средств измерений физических параметров наноразмерных объектов и структур, систем позиционирования и сканирования в нанотехнологиях и наноиндустрии.
Продолжительность работ
2007, 4 мес.
Бюджетные средства
20 млн
Количество заявок
8
Тема
Создание средств измерений и нормативно-методической базы для выполнения измерений геометрических размеров наночастиц монодисперсных фракций в процессе их получения.
Продолжительность работ
2008 - 2010, 25 мес.
Бюджетные средства
16 млн
Количество заявок
1
Тема
Создание комплекса аттестованных методик и эталонных излучателей для обеспечения единства измерений фотометрических и цветовых характеристик энергосберегающей светотехники на основе светодиодов на наногетероструктурах.
Продолжительность работ
2011, 7 мес.
Бюджетные средства
18 млн
Количество заявок
1
Тема
Создание метрологического комплекса и нормативно-методической базы для обеспечения единства измерений локальных 3D параметров поверхности в нанометровом диапазоне
Продолжительность работ
2008 - 2010, 27 мес.
Бюджетные средства
55 млн
Количество заявок
1
Тема
Разработка метода нанотомографии и создание аппаратуры для измерений геометрических параметров и топологии наноструктур скрытых под поверхностью.
Продолжительность работ
2008 - 2010, 25 мес.
Бюджетные средства
20 млн
Количество заявок
1