Выбор, обоснование и оптимизация проектно-технологического базиса для создания новых поколений субмикронных СБИС класса «система на кристалле» с возможностью реализации самодиагностики в соответствии с принятыми международными стандартами

Разработка базовых принципов и методологии для выбора и оптимизации схемотехнических и приборно-технологических подходов, используемых при проектировании перспективных субмикронных сверхбольших интегральных схемах (СБИС) типа «система на кристалле» (СнК), которые будут применяться в последующих поколениях вычислительных систем и телекоммуникационных устройств.
Выработка критериев, по которым будут оптимизированы имеющиеся и разрабатываемые библиотеки сложно-функциональных блоков, служащие базисом для создания современных субмикронных СБИС класса СнК.
Обеспечение интегрирования в современных СБИС класса СнК средств самодиагностики, ставших де-факто отраслевым стандартом, в частности, методики JTAG (стандарт IEEE 1149.1), путем введения в перспективный маршрут проектирования СБИС программных средств эмулирования диагностических регистровых цепей, включая полнофункциональную верификацию диагностических средств в составе СБИС