Регистрация / Вход
Прислать материал

Разработка и создание специализированного эталонного комплекса для аттестации и контроля средств измерений физических параметров наноразмерных объектов и структур, систем позиционирования и сканирования в нанотехнологиях и наноиндустрии.

Шифр лота
2007-03-1.3-07-13
Количество поданных заявок
8
Статус лота
Конкурс завершен
Способ размещения заказа
Информация отсутствует
Дата вскрытия
30.05.2007
Продолжительность работ
2007, 4 мес.
Бюджетные средства
20 млн
Внебюджетные средства
5 млн

Цель работы: обеспечение единства измерений в нанотехнологиях и наноиндустрии при измерении физических параметров наноразмерных объектов и структур, систем позиционирования и сканирования на основе специализированного эталонного комплекса, предназначенного для воспроизведения и передачи размера единицы физической величины от первичного эталона соответствующей единицы величины к средствам измерений, применяемым в нанометровом и прилегающим к нему диапазонах.

Заявки
Тема
Разработка и создание специализированного эталонного комплекса для аттестации и контроля средств измерений показателя преломления и спектрофотометрических параметров нано структурированных объектов и материалов
Цель
Обеспечение единства измерений в нанотехнологиях и наноиндустрии при измерении комплексного показателя преломления, спектрополяриметрических и спектрофотометрических характеристик наноразмерных объектов и наноматериалов, систем позиционирования и сканирования, использующихся в средствах измерения, на основе специализированного эталонного комплекса.
Исполнитель
ФГУП "ВНИИОФИ"
Статус
Победитель
Номер заявки
Заявка №2007-03-1.3-07-13-005
Тема
Разработка и создание специализированного эталонного комплекса для метрологического обеспечения измерений параметров наноразмерных объектов и структур, систем позиционирования и сканирования в нанотехнологиях и наноиндустрии
Цель
Обеспечение единства измерений в нанотехнологиях и наноиндустрии при измерении физических параметров наноразмерных объектов и структур, систем позиционирования и сканирования на основе специализированного эталонного комплекса, предназначенного для воспроизведения и передачи размера единицы физической величины от первичного эталона соответствующей единицы величины к средствам измерений, применяемым в нанометровом и прилегающим к нему диапазонах.
Исполнитель
АО "НИЦПВ"
Руководитель работ
Тодуа Павел Андреевич
Статус
Победитель
Номер заявки
Заявка №2007-03-1.3-07-13-004

  Другие заявки (6)

Программа

Программа "Исследования и разработки по приоритетным направлениям развития научно-технологического комплекса России на 2007-2013 годы"

Программное мероприятие

1.3 Проведение проблемно-ориентированных поисковых исследований и создание научно-технического задела в области индустрии наносистем
Тема
Создание аттестованных методик и эталонных мер для обеспечения единства измерений координат и позиционирования объектов в наноинженерии и наноэлектронике.
Продолжительность работ
2011, 6 мес.
Бюджетные средства
8 млн
Количество заявок
1
Тема
Создание методов и средств аттестации и калибровки приборов диагностики геометрических параметров нанорельефа поверхности кристаллических материалов
Продолжительность работ
2005 - 2006, 23 мес.
Бюджетные средства
8 млн
Количество заявок
3
Тема
Разработка методов и средств метрологического обеспечения единства измерений в нанотехнологиях на основе тест-объектов нанометрового диапазона.
Продолжительность работ
2007 - 2008, 17 мес.
Бюджетные средства
32 млн
Количество заявок
9
Тема
Создание метрологического комплекса и нормативно-методической базы для обеспечения единства измерений локальных 3D параметров поверхности в нанометровом диапазоне
Продолжительность работ
2008 - 2010, 27 мес.
Бюджетные средства
55 млн
Количество заявок
1
Тема
Создание комплекса аттестованных методик и эталонных излучателей для обеспечения единства измерений фотометрических и цветовых характеристик энергосберегающей светотехники на основе светодиодов на наногетероструктурах.
Продолжительность работ
2011, 7 мес.
Бюджетные средства
18 млн
Количество заявок
1