Регистрация / Вход
Прислать материал

Разработка метода нанотомографии и создание аппаратуры для измерений геометрических параметров и топологии наноструктур скрытых под поверхностью.

Шифр лота
2008-03-3.1-044
Количество поданных заявок
1
Статус лота
Конкурс завершен
Способ размещения заказа
Информация отсутствует
Дата вскрытия
07.10.2008
Продолжительность работ
2008 - 2010, 25 мес.
Бюджетные средства
20 млн
Внебюджетные средства
0 млн

Разработка метода нанотомографии и создание средств измерений для обеспечения единства геометрических параметров наноструктур, с многоуровневой топологией на основе технических средств и методов электронной томографии и пространственной туннельной спектроскопии.

 Все лоты данного конкурса (5)

Тема
Разработка и организация выпуска комплекса аттестованных по химическому составу стандартных образцов неорганических наноматериалов на основе высокочистых веществ, для метрологического обеспечения аналитических приборов и методик.
Продолжительность работ
2008 - 2010, 25 мес.
Бюджетные средства
94 млн
Количество заявок
2
Тема
Создание метрологического комплекса и нормативно-методической базы для обеспечения единства измерений при оценке соответствия наноструктурных ядерных и функциональных материалов для атомной энергетики.
Продолжительность работ
2008 - 2010, 25 мес.
Бюджетные средства
70 млн
Количество заявок
1
Тема
Создание комплекса стандартных образцов и нормативно-методической базы для обеспечения единства измерений при оценке соответствия сверхпроводящих наноматериалов для энергетики.
Продолжительность работ
2008 - 2010, 25 мес.
Бюджетные средства
45 млн
Количество заявок
1
Тема
Создание метрологического комплекса и нормативно-методической базы для обеспечения единства измерений наноматериалов при производстве высокоэнергетических магнитов и высокоемких танталовых конденсаторов для энергетики, транспорта и связи.
Продолжительность работ
2008 - 2009, 13 мес.
Бюджетные средства
20 млн
Количество заявок
1
Тема
Создание средств измерений и нормативно-методической базы для выполнения измерений геометрических размеров наночастиц монодисперсных фракций в процессе их получения.
Продолжительность работ
2008 - 2010, 25 мес.
Бюджетные средства
16 млн
Количество заявок
1
Заявки
Тема
Разработка метода нанотомографии и создание аппаратуры для измерений геометрических параметров и топологии наноструктур скрытых под поверхностью.
Цель
Разработка метода нанотомографии и средств измерений для обеспечения единства измерения геометрических параметров и топологии оптически непрозрачных наноструктур, скрытых под поверхностью, с помощью отраженных электронов и катодолюминесценции в СЭМ и туннельной спектроскопии и микроскопии в СТМ. Создание методики последовательного мониторинга и характеризации внутренних слоев, межфазных границ и локализованных нанообьектов в тонкопленочных микро- и наноструктурах на основе измерений обратнорассеянных электронов и их энергетических спектров, осуществляемых в определенном энергетическом интервале и при определенном угле детектирования, а также туннелирующих электронов и локальных спектров туннельной проводимости. Разработка методик и средств контроля размеров и химического состава нанообъектов, пригодных для аттестации и обеспечения единства измерений в нанотехнологии и наноиндустрии. Разработка метода измерения глубин залегания и толщин подповерхностных композиционных деталей исследуемых наноструктур. Аттестация разработанных методик и создание средств калибровки.
Статус
Победитель
Номер заявки
Заявка №2008-03-3.1-044-006

Программа

Программа "Развитие инфраструктуры наноиндустрии в Российской Федерации на 2008 - 2011 годы"

Программное мероприятие

3.1 Мероприятие по развитию методической составляющей системы обеспечения единства измерений в наноиндустрии и безопасности создания и применения объектов наноиндустрии
Тема
Создание методов и средств аттестации и калибровки приборов диагностики геометрических параметров нанорельефа поверхности кристаллических материалов
Продолжительность работ
2005 - 2006, 23 мес.
Бюджетные средства
8 млн
Количество заявок
3
Тема
Создание средств измерений и нормативно-методической базы для выполнения измерений геометрических размеров наночастиц монодисперсных фракций в процессе их получения.
Продолжительность работ
2008 - 2010, 25 мес.
Бюджетные средства
16 млн
Количество заявок
1
Тема
Разработка измерительных методов и аппаратуры для диагностики механических свойств, геометрических параметров, нанотекстуры поверхности и напряженных состояний изделий, получаемых с использованием аддитивных технологий
Продолжительность работ
2017 - 2019, 26 мес.
Бюджетные средства
142 млн
Количество заявок
7
Тема
Создание метрологического комплекса и нормативно-методической базы для обеспечения единства измерений магнитных параметров наноструктур, материалов и продукции наноиндустрии
Продолжительность работ
2008 - 2010, 27 мес.
Бюджетные средства
103 млн
Количество заявок
1
Тема
Методы и средства метрологического обеспечения измерений параметров нано-структур и нанообъектов в просвечивающей электронной микроскопии.
Продолжительность работ
2011, 7 мес.
Бюджетные средства
20 млн
Количество заявок
1