Регистрация / Вход
Прислать материал

Создание метрологического комплекса и нормативно-методической базы для обеспечения единства измерений локальных 3D параметров поверхности в нанометровом диапазоне

Шифр лота
2008-03-3.1-061
Количество поданных заявок
1
Статус лота
Конкурс завершен
Способ размещения заказа
Информация отсутствует
Дата вскрытия
21.10.2008
Продолжительность работ
2008 - 2010, 27 мес.
Бюджетные средства
55 млн
Внебюджетные средства
0 млн

Обеспечение единства измерений значений локальных 3D параметров поверхности в нанометровом диапазоне, определяющих ее функциональные свойства.

 Все лоты данного конкурса (6)

Тема
Создание метрологического комплекса и нормативно-методической базы для обеспечения единства измерений сорбционной емкости наноструктурированных функциональных материалов.
Продолжительность работ
2008 - 2010, 24 мес.
Бюджетные средства
20 млн
Количество заявок
2
Тема
Создание метрологического комплекса и нормативно-методической базы для обеспечения единства измерений магнитных параметров наноструктур, материалов и продукции наноиндустрии
Продолжительность работ
2008 - 2010, 27 мес.
Бюджетные средства
103 млн
Количество заявок
1
Тема
Создание проектов нормативно-правового и методического обеспечения комплексной системы безопасности в процессе исследований, освоения, производства, обращения и утилизации наноматериалов в Российской Федерации
Продолжительность работ
2008 - 2010, 27 мес.
Бюджетные средства
225 млн
Количество заявок
2
Тема
Разработка нормативно-методического обеспечения и средств контроля содержания наночастиц на объектах производственной сферы
Продолжительность работ
2008 - 2010, 27 мес.
Бюджетные средства
90 млн
Количество заявок
3
Тема
Разработка нормативно-методического обеспечения и средств контроля содержания и безопасности наночастиц в продукции сельского хозяйства, пищевых продуктах и упаковочных материалах
Продолжительность работ
2008 - 2010, 27 мес.
Бюджетные средства
90 млн
Количество заявок
1
Тема
Разработка нормативно-методического обеспечения и средств контроля содержания наночастиц в продукции бытовой химии и парфюмерно-косметических изделиях
Продолжительность работ
2008 - 2010, 27 мес.
Бюджетные средства
50 млн
Количество заявок
1
Заявки
Тема
Создание метрологического комплекса и нормативно-методической базы для обеспечения единства измерений локальных 3D параметров поверхности в нанометровом диапазоне
Цель
Создание метрологического комплекса и нормативно-методической базы для обеспечения единства измерений локальных 3D параметров поверхности в нанометровом диапазоне, определяющих ее функциональные свойства.
Руководитель работ
Каргин Николай Иванович
Статус
Победитель
Номер заявки
Заявка №2008-03-3.1-061-011

Программа

Программа "Развитие инфраструктуры наноиндустрии в Российской Федерации на 2008 - 2011 годы"

Программное мероприятие

3.1 Мероприятие по развитию методической составляющей системы обеспечения единства измерений в наноиндустрии и безопасности создания и применения объектов наноиндустрии
Тема
Создание метрологического комплекса для измерений характеристик текстуры большепольной поверхности на основе мультисенсорной зондовой микроскопии и динамической меры перемещения нанометрового диапазона.
Продолжительность работ
2011, 7 мес.
Бюджетные средства
13 млн
Количество заявок
1
Тема
Разработка методов и средств метрологического обеспечения единства измерений в нанотехнологиях на основе тест-объектов нанометрового диапазона.
Продолжительность работ
2007 - 2008, 17 мес.
Бюджетные средства
32 млн
Количество заявок
9
Тема
Создание метрологического комплекса и нормативно-методической базы для обеспечения единства измерений сорбционной емкости наноструктурированных функциональных материалов.
Продолжительность работ
2008 - 2010, 24 мес.
Бюджетные средства
20 млн
Количество заявок
2
Тема
Создание метрологического комплекса и нормативно-методической базы для обеспечения единства измерений при оценке соответствия наноструктурных ядерных и функциональных материалов для атомной энергетики.
Продолжительность работ
2008 - 2010, 25 мес.
Бюджетные средства
70 млн
Количество заявок
1
Тема
Создание метрологического комплекса и нормативно-методической базы для обеспечения единства измерений магнитных параметров наноструктур, материалов и продукции наноиндустрии
Продолжительность работ
2008 - 2010, 27 мес.
Бюджетные средства
103 млн
Количество заявок
1