Регистрация / Вход
Прислать материал

Метрологическое и нормативно-методическое обеспечение измерений параметров и характеристик наноструктурированных гетероэпитаксиальных структур полупроводникового твердого раствора «кадмий-ртуть-теллур» для инфракрасной техники.

Шифр лота
2011-3.1-648-011
Количество поданных заявок
1
Статус лота
Конкурс завершен
Способ размещения заказа
Информация отсутствует
Дата вскрытия
06.05.2011
Продолжительность работ
2011, 6 мес.
Бюджетные средства
7 млн
Внебюджетные средства
0,37 млн

Метрологическое и методическое обеспечение единства измерений при разработке промышленной технологии изготовления и при производстве наноструктурированных гетероэпитаксиальных структур полупроводникового твердого раствора «кадмий-ртуть-теллур» (ГЭС КРТ) для инфракрасной техники.

 Все лоты данного конкурса (13)

Тема
Создание нормативно-методической базы и стандартных образцов для обеспечения единства измерений массовой доли и размеров наночастиц в различных средах и биологической матрице на основе ядерно-физической и оптической спектроскопии.
Продолжительность работ
2011, 6 мес.
Бюджетные средства
14 млн
Количество заявок
1
Тема
Создание комплекса аттестованных методик для обеспечения единства измерений спектральных и временных характеристик нанобиоструктур с пространственным разрешением в нанодиапазоне.
Продолжительность работ
2011, 6 мес.
Бюджетные средства
9 млн
Количество заявок
1
Тема
Создание методов и средств обеспечения единства измерений нелинейно-оптической восприимчивости наноструктурированных материалов с временным разрешением в приложениях информационно-телекоммуникационных технологиях и лазерной физике.
Продолжительность работ
2011, 6 мес.
Бюджетные средства
9 млн
Количество заявок
1
Тема
Создание аттестованных методик и эталонных мер для обеспечения единства измерений координат и позиционирования объектов в наноинженерии и наноэлектронике.
Продолжительность работ
2011, 6 мес.
Бюджетные средства
8 млн
Количество заявок
1
Тема
Метрологическое обеспечение измерений размерных параметров наночастиц и тонких пленок методами малоугловой рентгеновской дифрактометрии.
Продолжительность работ
2011, 6 мес.
Бюджетные средства
12 млн
Количество заявок
1
Тема
Комплект высокоточных мер ступенчатых поверхностей с субангстремным вертикальным разрешением для обеспечения единства измерений в нано- и субнанометровом диапазоне размеров.
Продолжительность работ
2011, 6 мес.
Бюджетные средства
14 млн
Количество заявок
1
Тема
Методы и средства метрологического обеспечения измерений пространственных и функциональных характеристик наноразмерных покрытий и гетероструктур.
Продолжительность работ
2011, 6 мес.
Бюджетные средства
19 млн
Количество заявок
1
Тема
Метрологическое и нормативно-методическое обеспечение измерений механических и трибологических свойств наноматериалов и продукции наноиндустрии.
Продолжительность работ
2011, 6 мес.
Бюджетные средства
12 млн
Количество заявок
1
Тема
Создание комплекта аттестованных методик, стандартных образцов и мер для метрологического обеспечения измерений состава, структуры и свойств высокопрочных наноструктурированных конструкционных сталей и сплавов.
Продолжительность работ
2011, 6 мес.
Бюджетные средства
22 млн
Количество заявок
1
Тема
Создание стандартных образцов состава и свойств многослойных наногетероструктур для метрологического обеспечения измерений профилей состава функциональных покрытий и приборов наноэлектроники на гетероструктурах.
Продолжительность работ
2011, 6 мес.
Бюджетные средства
6 млн
Количество заявок
1
Тема
Создание методов и средств метрологического обеспечения измерений примесного состава высокочистых веществ и наноматериалов для производства солнечных батарей нового поколения и наноэлектроники.
Продолжительность работ
2011, 6 мес.
Бюджетные средства
12 млн
Количество заявок
1
Тема
Создание комплекса стандартных образцов и аттестованных методик измерений характеристик наноструктурированных деформируемых никелевых сплавов.
Продолжительность работ
2011, 6 мес.
Бюджетные средства
12 млн
Количество заявок
1
Тема
Создание комплекса аттестованных методик и стандартных образцов для измерений состава и магнитной текстуры редкоземельных наноструктурных сплавов для разделительных центрифуг нового поколения в атомной энергетике.
Продолжительность работ
2011, 6 мес.
Бюджетные средства
9 млн
Количество заявок
1
Заявки
Тема
Метрологическое и нормативно-методическое обеспечение измерений параметров и характеристик наноструктурированных гетероэпитаксиальных структур полупроводникового твердого раствора «кадмий-ртуть-теллур» для инфракрасной техники.
Цель
Метрологическое и методическое обеспечение единства измерений при разработке промышленной технологии изготовления и при производстве наноструктурированных гетероэпитаксиальных структур полупроводникового твердого раствора «кадмий-ртуть-теллур» (ГЭС КРТ) для инфракрасной техники.
Исполнитель
ФГУП "НПО "Орион"
Руководитель работ
Бурлаков Игорь Дмитриевич
Статус
Победитель
Номер заявки
Заявка №2011-3.1-648-011-012

Программа

Программа "Развитие инфраструктуры наноиндустрии в Российской Федерации на 2008 - 2011 годы"

Программное мероприятие

3.1 Мероприятие по развитию методической составляющей системы обеспечения единства измерений в наноиндустрии и безопасности создания и применения объектов наноиндустрии
Проведение поисковых научно-исследовательских работ в области электроники и перспективных материалов в интересах высокотехнологичных секторов экономики с использованием современной экспериментальной базы : 1. Исследование интегрально-оптического модулятора на ниобате лития, выполненного на базе протонообменных канальных волноводов 2. Рентгеновские исследования планарных наноразмерных структур на основе TiO2, Al2O3 и их смесей, выращенных методом атомно-слоевого осаждения 3. Исследование процесса получения тонкопленочного покрытия для плазменных зондов 4. Исследование основных характеристик эпитаксиальных слоев полупроводниковых соединений А3В5 и твердых растворов на их основе 5. Изучение влияния ростовых дефектов гетероэпитаксиальных слоев твердого раствора теллурида кадмия-ртути (ГЭС КРТ) на вольт-фарадные характеристики структур ГЭС КРТ/пассивирующее диэлектрическое покрытие 6. Исследование субмикронных порошков Lu1-xYxBO3:Eu,Ce методами растровой электронной микроскопии, катодолюминесценции и элементного микроанализа 7. Исследование структуры и свойств тонких пленок твердых растворов (SiC)1-x(AlN)x 8. Изучение возможности использования пленки метастабильного твердого GeO как перспективного материала для нанотехнологии 9. Исследование нанокластеров кремния в пленках оксида и нитрида кремния с применением микроскопии и рентгеновского анализа 10. Синтез и изучение электрофизических свойств ультратонких углеродных пленок 11. Изучение метрологических характеристик сканирующих головок атомно-силового микроскопа, используемых для контроля технологических операций в микро- и наноэлектронике 12. Разработка криогенного фильтра низких частот на основе интегральных тонкопленочных конденсаторов
Продолжительность работ
2010, 2 мес.
Бюджетные средства
2 млн
Организация
МФТИ
профинансировано
Тема
Создание метрологического комплекса и нормативно-методической базы для обеспечения единства измерений сорбционной емкости наноструктурированных функциональных материалов.
Продолжительность работ
2008 - 2010, 24 мес.
Бюджетные средства
20 млн
Количество заявок
2
Тема
Методы и средства метрологического обеспечения измерений параметров нано-структур и нанообъектов в просвечивающей электронной микроскопии.
Продолжительность работ
2011, 7 мес.
Бюджетные средства
20 млн
Количество заявок
1
Тема
Создание метрологического комплекса и нормативно-методической базы для обеспечения единства измерений магнитных параметров наноструктур, материалов и продукции наноиндустрии
Продолжительность работ
2008 - 2010, 27 мес.
Бюджетные средства
103 млн
Количество заявок
1
Тема
«Разработка технологии производства гетероэпитаксиальных структур на основе карбида кремния и родственных широкозонных полупроводниковых материалов на нанопористых подложках кремния для приборов электроники, микро- и наносистемной техники».
Продолжительность работ
2011 - 2013, 31 мес.
Бюджетные средства
240 млн
Количество заявок
1
Тема
Создание метрологического комплекса и нормативно-методической базы для обеспечения единства измерений локальных 3D параметров поверхности в нанометровом диапазоне
Продолжительность работ
2008 - 2010, 27 мес.
Бюджетные средства
55 млн
Количество заявок
1