Регистрация / Вход
Прислать материал

Создание метрологического комплекса и нормативно-методической базы для обеспечения единства измерений наноматериалов при производстве высокоэнергетических магнитов и высокоемких танталовых конденсаторов для энергетики, транспорта и связи

Стадии проекта
Предложение принято
Конкурс завершен
Проект закончен
Проект
01.648.12.3015
Организация
АО "ВНИИНМ"
Руководитель работ
Глебов Владимир Александрович

Создание метрологического комплекса и нормативно-методической базы для обеспечения единства измерений состава, структуры, электрических и магнитных свойств нанокристаллических магнитных порошков (БЗМП) и высокоемких конденсаторных нанопорошков тантала (ВКПТ), и являющихся основой производства отечественных постоянных магнитов и высокоемких конденсаторов для энергетики, транспорта и связи, включающее:
• методики выполнения измерений метрологических характеристик нанокристаллических БЗМП и ВКПТ.
• набор стандартных образцов (СО) нанокристаллических БЗМП, получаемых методом центробежного распыления расплава и нанокристаллических ВКПТ, получаемых методом натриетермического восстановления.

Этапы проекта

1
30.10.2008 - 27.11.2008
Разработаны требования к МВИ метрологических характеристик нанокристаллических быст-розакаленных магнитных порошков (БЗМП) и высокоемких конденсаторных нанопорошков тан-тала (ВКПТ), являющихся основой производства отечественных постоянных магнитов и высокоемких конденсаторов для энергетики, транспорта и связи, а также разработан перечень МВИ мет-рологических характеристик нанокристаллических БЗМП и ВКПТ:
• МВИ массовых долей неодима, бора, кобальта, алюминия и ниобия в нанокристаллических порошках БЗМП.
• МВИ остаточной индукции и коэрцитивной силы в нанокристаллических порошках БЗМП.
• МВИ рабочей температуры в нанокристаллических порошках БЗМП.
• МВИ размера кристаллитов в нанокристаллических порошках БЗМП.
• МВИ размера кристаллитов в нанокристаллических порошках ВКПТ.
• МВИ фракционного состава нанокристаллических порошков ВКПТ.
• МВИ удельной поверхности нанокристаллических порошков ВКПТ.
• МВИ удельного заряда и удельного тока утечки нанокристаллических порошков ВКПТ.
Разработка перечисленных МВИ позволит создать необходимое метрологическое обеспечение единства измерений состава, структуры, электрических и магнитных свойств нанокристаллических БЗМП и ВКПТ, поставляемых предприятиям – изготовителям танталовых конденсаторов и постоянных магнитов для энергетики, транспорта и связи.
Развернуть
2
28.11.2008 - 25.12.2008
1.Проведен сравнительный анализ методов и средств контроля метрологических характеристик нанокристаллических БЗМП и ВКПТ, производимых на опытно-промышленном производстве ФГУП ВНИИНМ.
2. Разработаны требования к стандартным образцам нанокристаллических БЗМП и ВКПТ. Требования изложены в виде Технических заданий в соответствии с ГОСТ 8.315-97 «Стандартные образцы состава и свойств веществ и материалов».
3. Требования к СО размера кристаллитов и рабочей температуры нанокристаллических БЗМП разработаны соисполнителем – УрГУ им. А.М.Горького.
4 Разработан перечень СО нанокристаллических БЗМП и ВКПТ.
5. Объекты интеллектуальной собственности на отчетном этапе не созданы.
Развернуть
3
01.01.2009 - 30.04.2009
Создан метрологический комплекс для обеспечения единства измерений метрологических характеристик порошков БЗМП и ВКПТ, включающий установки для измерения химсостава, структурных, магнитных и электрических характеристик нанокристаллических порошков БЗМП и ВКПТ.
Разработаны и представлены документы на МВИ метрологических характеристик нанокристаллических порошков БЗМП и ВКПТ.
Изготовлены рабочие тела СО нанокристаллических БЗМП и ВКПТ.
Получены и представлены результаты контроля метрологических характеристик рабочих тел СО нанокристаллических порошков БЗМП и ВКПТ.
Составлен и представлен протокол изготовления набора рабочих тел СО нанокристаллических порошков БЗМП и ВКПТ.
Развернуть
4
01.05.2009 - 25.10.2009
Объектом разработки и создания является метрологический комплекс для обеспечения единства измерений наноматериалов при производстве нанокристаллических быстрозакаленных магнитных порошков (БЗМП) и высокоемких конденсаторных нанопорошков тантала (ВКПТ).
Работа выполняется по Госконтракту с Федеральным агентством по науке и инновациям №01.648.12.3015 в рамках федеральной целевой программы «Развитие инфраструктуры наноинду-стрии в Российской Федерации на 2008-2010 годы».
Цель работы – создание метрологического комплекса и нормативно-методической базы для обеспечения единства измерений наноматериалов при производстве высокоэнергетических магни-тов и высокоемких танталовых конденсаторов для энергетики, транспорта и связи.
Цель четвертого (заключительного) этапа работы по Госконтракту — проведение аттестации МВИ метрологических характеристик нанокристаллических БЗМП и ВКПТ, а также аттестация наборов СО, в том числе государственных, нанокристаллических БЗМП и ВКПТ.
Для достижения поставленной цели в ходе четвертого этапа выполнены следующие работы:
- На основе приборно-инструментальной базы сформированного метрологического комплекса проведены измерения метрологических характеристик и аттестация 18 МВИ состава и свойств нанокристаллических порошков БЗМП и ВКПТ.
- Проведена аттестация 4 государственных стандартных образцов (ГСО) и 5 стандартных образцов предприятия (СОП) нанокристаллических быстрозакаленных магнитных порошков БЗМП и высокоемких конденсаторных порошков тантала ВКПТ.
- Получены предусмотренные государственным контрактом документы по результатам аттестации МВИ, ГСО и СОП нанокристаллических быстрозакаленных магнитных порошков и высокоемких конденсаторных порошков тантала.
Выполнением работ заключительного этапа Госконтракта закончено создание метрологического комплекса для обеспечения единства измерений состава, структуры, электрических свойств и магнитных свойств БЗМП и ВКПТ, поставляемых предприятиям – изготовителям танталовых конденсаторов и постоянных магнитов для энергетики, транспорта и связи.
Аттестация МВИ и рабочих тел СО выполнена в соответствии с ГОСТ 8.563-95 «Методики выполнения измерений» и ГОСТ 8.315-97 «Стандартные образцы состава и свойств веществ и ма-териалов».
Развернуть

Программа

Программа "Развитие инфраструктуры наноиндустрии в Российской Федерации на 2008 - 2011 годы"

Программное мероприятие

3.1 Мероприятие по развитию методической составляющей системы обеспечения единства измерений в наноиндустрии и безопасности создания и применения объектов наноиндустрии
Тема
Создание метрологического комплекса и нормативно-методической базы для обеспечения единства измерений наноматериалов при производстве высокоэнергетических магнитов и высокоемких танталовых конденсаторов для энергетики, транспорта и связи.
Продолжительность работ
2008 - 2009, 13 мес.
Бюджетные средства
20 млн
Количество заявок
1
Тема
Создание метрологического комплекса и нормативно-методической базы для обеспечения единства измерений при оценке соответствия наноструктурных ядерных и функциональных материалов для атомной энергетики.
Продолжительность работ
2008 - 2010, 25 мес.
Бюджетные средства
70 млн
Количество заявок
1
Тема
Создание комплекса аттестованных методик и стандартных образцов для измерений состава и магнитной текстуры редкоземельных наноструктурных сплавов для разделительных центрифуг нового поколения в атомной энергетике.
Продолжительность работ
2011, 6 мес.
Бюджетные средства
9 млн
Количество заявок
1
Тема
Создание методик измерений и стандартных образцов состава и свойств нанопористого модифицированного силикагеля, нанопорошка иридия, суспензий наночастиц серебра для метрологического обеспечения измерений действующих производств наноматериалов.
Продолжительность работ
2011, 7 мес.
Бюджетные средства
9 млн
Количество заявок
1
Тема
Метрологическое и нормативно-методическое обеспечение измерений механических и трибологических свойств наноматериалов и продукции наноиндустрии.
Продолжительность работ
2011, 6 мес.
Бюджетные средства
12 млн
Количество заявок
1