Регистрация / Вход
Прислать материал

Выбор, обоснование и оптимизация проектно-технологического базиса для создания новых поколений субмикронных СБИС класса «система на кристалле» с возможностью реализации самодиагностики в соответствии с принятыми международными стандартами.

Стадии проекта
Предложение принято
Конкурс завершен
Выполнение этапа проекта
Проект
02.435.11.1006
Организация
ООО "ИПОВС"

Разработка базовых принципов и методологии для выбора и оптимизации схемотехнических и приборно-технологических подходов, используемых при проектировании перспективных субмикронных сверхбольших интегральных схемах (СБИС) типа «система на кристалле» (СнК), которые будут применяться в последующих поколениях вычислительных систем и телекоммуникационных устройств.
Выработка критериев, по которым будут оптимизированы имеющиеся и разрабатываемые библиотеки сложно-функциональных блоков, служащие базисом для создания современных субмикронных СБИС класса СнК.
Обеспечение интегрирования в современных СБИС класса СнК средств самодиагностики, ставших де-факто отраслевым стандартом, в частности, методики JTAG (стандарт IEEE 1149.1), путем введения в перспективный маршрут проектирования СБИС программных средств эмулирования диагностических регистровых цепей, включая полнофункциональную верификацию диагностических средств в составе СБИС

Соисполнители

Организация
ОАО "ОТИК-групп"

Этапы проекта

1
22.08.2005 - 30.09.2005
2
01.10.2005 - 09.12.2005
Разработано описание проектно-технологических решений, обеспечивающих высокий уровень отказоустойчивости и в целом надежности создаваемых на их основе СБИС класса СнК за счет использования процедур верификации по всему циклу проектирования СБИС.
Разработана пояснительная записка к эскизному проекту.
Эскизный проект согласован и утвержден.
Развернуть
3
01.01.2006 - 31.03.2006
- разработано описание алгоритмического построения программного комплекса;
- разработан алгоритмический базис для высокоуровневого описания параметрических моделей библиотек элементов (логика, запоминающие устройства, регистры, интерфейсные блоки) и сложно-функциональных блоков;
- уточнены структуры входных и выходных данных программных комплексов;
- разработаны структуры программного комплекса и принципов взаимодействия его составных частей;
- окончательно определены конфигурации технических средств;
- разработана пояснительная записка к техническому проекту;
- технический проект согласован и утвержден.
Развернуть
4
01.04.2006 - 31.08.2006
? Проведены дополнительные патентные исследования
? Проведено программирование и отладка программного комплекса:
? Разработаны параметризованные универсальные средства описания приборно - технологических библиотек, в том числе SDM-класса;
? Разработаны средства пользовательского интерфейса для создания базисных моделей и представления результатов проведенных процедур эмулирования и верификации;
? Разработаны средства автоматической генерации серверных и клиентских программных компонент системы при использовании иерархического построения САПР СБИС;
? Разработаны средства автоматической генерации диагностических сдвигов регистров при организации средств самодиагностики по стандарту JTAG в операционной среде Solaris, Linux, Unix;
? Разработан интерфейс между программным обеспечением, разработанным в ходе данной работы, и программным обеспечением персональных компьютеров, работающих в режиме Х-терминалов и являющихся рабочими станциями разработчиков СБИС;
? Созданы процедуры визуализации пользовательского интерфейса для полной автоматизации выбора оптимальных библиотек элементов и сложнофункциональных блоков, необходимых для разработки СБИС класса СнК.
? Изготовлен оригинал программного комплекса
? Разработаны программные документы в соответствии с требованиями ГОСТ 19.101-77
? Разработаны, согласованы и утверждены программы и методики предварительных испытаний.
Развернуть
5
01.09.2006 - 31.10.2006
АННОТАЦИОННЫЙ ОТЧЁТ
по пятому этапу ОКР “Выбор, обоснование и оптимизация проектно-технологического базиса для создания новых поколений субмикронных СБИС класса «система на кристалле» с возможностью реализации самодиагностики в соответствии с принятыми международными стандартами”

Ключевые слова: предварительные испытания, приёмочные испытания, система на кристалле, системы автоматизированного проектирования, сапр, модель, технология, архитектура, интерфейс, библиотека, логический элемент, блок, ячейка, процессор, регистр, память, адрес, компиляция, диагностика, верификация, синтез, функциональная схема.

На пятом этапе ОКР проведены предварительные и приёмочные испытания программного комплекса по теме “Выбор, обоснование и оптимизация проектно-технологического базиса для создания новых поколений субмикронных СБИС класса «система на кристалле» с возможностью реализации самодиагностики в соответствии с принятыми международными стандартами”.
В ходе выполнения этапа:
- Проведены предварительные испытания программного комплекса.
- Выполнена корректировка программного комплекса и программной документации по результатам предварительных испытаний.
- Разработана программа и методика приемочных испытаний.
- Проведены приемочные испытания.
- Выполнена корректировка программного комплекса и программной документации по результатам приемочных испытаний.
-Подготовлены и согласованы предложения по распространению программного комплекса.
Цель выполненной работы – проведение предварительных и приёмочных испытаний, корректировка по результатам испытаний документации и самого программного комплекса, обеспечивающего встраивание систем самодиагностики СБИС, используемого при проектировании перспективных субмикронных сверхбольших интегральных схем (СБИС) типа «система на кристалле» (СнК), которые будут применяться в последующих поколениях вычислительных систем и телекоммуникационных устройств.
Результатом работы являются выполненные в полном объёме предварительные и приёмочные испытания, и проведённая по их результатам корректировка документации и самого программно-аппаратного комплекса для разработки электронной компонентной базы на основе СБИС класса СнК, обеспечивающих тестирование в соответствии со стандартом IEEE 1149.1.
После завершения ОКР разработанный ПАК позволит разрабатывать быстро и экономически эффективно большую номенклатуру СБИС, в том числе класса “Система на Кристалле” (СнК) с уменьшенными затратами на измерения благодаря встроенным средствам самодиагностики.

Главный конструктор ОКР _______________ Зайцев В.В.
Развернуть

Программа

Программа "Исследования и разработки по приоритетным направлениям развития науки и техники" на 2002-2006 годы

Программное мероприятие

1.3 Прикладные разработки в рамках системы приоритетных направлений
Продолжительность работ
2015 - 2018, 33 мес.
Бюджетные средства
155 млн
профинансировано
Тема
Выбор, обоснование и оптимизация проектно-технологического базиса для создания новых поколений субмикронных СБИС класса «система на кристалле» с возможностью реализации самодиагностики в соответствии с принятыми международными стандартами
Продолжительность работ
2005 - 2006, 23 мес.
Бюджетные средства
10 млн
Количество заявок
4
Тема
Исследование и обоснование методологических основ проектирования субмикронных СБИС класса «система на кристалле» со встроенными аналого-цифровыми сложно-функциональными блоками для сверхвысокопроизводительных устройств, реализующих быстрое преобразование Фурье
Продолжительность работ
2005 - 2006, 23 мес.
Бюджетные средства
6 млн
Количество заявок
0
Тема
Исследование в области создания методологии расчета средствами приборно-технологического моделирования основных эффектов, возникающих в интегральных элементах ИС при попадании в них тяжелой заряженной частицы.
Продолжительность работ
2011 - 2012, 13 мес.
Бюджетные средства
15 млн
Количество заявок
1
Тема
«Разработка технологии производства нового класса объемных термоэлектрических материалов с нано- и субмикронными элементами структуры для термоэлектрических модулей».
Продолжительность работ
2011 - 2013, 31 мес.
Бюджетные средства
300 млн
Количество заявок
3
Тема
Разработка технологии проектирования микросхем «система на кристалле» на основе отечественной САПР СБИС
Продолжительность работ
2015 - 2017, 27 мес.
Бюджетные средства
155 млн
Количество заявок
2