Выбор, обоснование и оптимизация проектно-технологического базиса для создания новых поколений субмикронных СБИС класса «система на кристалле» с возможностью реализации самодиагностики в соответствии с принятыми международными стандартами.

Разработано описание проектно-технологических решений, обеспечивающих высокий уровень отказоустойчивости и в целом надежности создаваемых на их основе СБИС класса СнК за счет использования процедур верификации по всему циклу проектирования СБИС.
Разработана пояснительная записка к эскизному проекту.
Эскизный проект согласован и утвержден.

- разработано описание алгоритмического построения программного комплекса;
- разработан алгоритмический базис для высокоуровневого описания параметрических моделей библиотек элементов (логика, запоминающие устройства, регистры, интерфейсные блоки) и сложно-функциональных блоков;
- уточнены структуры входных и выходных данных программных комплексов;
- разработаны структуры программного комплекса и принципов взаимодействия его составных частей;
- окончательно определены конфигурации технических средств;
- разработана пояснительная записка к техническому проекту;
- технический проект согласован и утвержден.

? Проведены дополнительные патентные исследования
? Проведено программирование и отладка программного комплекса:
? Разработаны параметризованные универсальные средства описания приборно - технологических библиотек, в том числе SDM-класса;
? Разработаны средства пользовательского интерфейса для создания базисных моделей и представления результатов проведенных процедур эмулирования и верификации;
? Разработаны средства автоматической генерации серверных и клиентских программных компонент системы при использовании иерархического построения САПР СБИС;
? Разработаны средства автоматической генерации диагностических сдвигов регистров при организации средств самодиагностики по стандарту JTAG в операционной среде Solaris, Linux, Unix;
? Разработан интерфейс между программным обеспечением, разработанным в ходе данной работы, и программным обеспечением персональных компьютеров, работающих в режиме Х-терминалов и являющихся рабочими станциями разработчиков СБИС;
? Созданы процедуры визуализации пользовательского интерфейса для полной автоматизации выбора оптимальных библиотек элементов и сложнофункциональных блоков, необходимых для разработки СБИС класса СнК.
? Изготовлен оригинал программного комплекса
? Разработаны программные документы в соответствии с требованиями ГОСТ 19.101-77
? Разработаны, согласованы и утверждены программы и методики предварительных испытаний.

АННОТАЦИОННЫЙ ОТЧЁТ
по пятому этапу ОКР “Выбор, обоснование и оптимизация проектно-технологического базиса для создания новых поколений субмикронных СБИС класса «система на кристалле» с возможностью реализации самодиагностики в соответствии с принятыми международными стандартами”

Ключевые слова: предварительные испытания, приёмочные испытания, система на кристалле, системы автоматизированного проектирования, сапр, модель, технология, архитектура, интерфейс, библиотека, логический элемент, блок, ячейка, процессор, регистр, память, адрес, компиляция, диагностика, верификация, синтез, функциональная схема.

На пятом этапе ОКР проведены предварительные и приёмочные испытания программного комплекса по теме “Выбор, обоснование и оптимизация проектно-технологического базиса для создания новых поколений субмикронных СБИС класса «система на кристалле» с возможностью реализации самодиагностики в соответствии с принятыми международными стандартами”.
В ходе выполнения этапа:
- Проведены предварительные испытания программного комплекса.
- Выполнена корректировка программного комплекса и программной документации по результатам предварительных испытаний.
- Разработана программа и методика приемочных испытаний.
- Проведены приемочные испытания.
- Выполнена корректировка программного комплекса и программной документации по результатам приемочных испытаний.
-Подготовлены и согласованы предложения по распространению программного комплекса.
Цель выполненной работы – проведение предварительных и приёмочных испытаний, корректировка по результатам испытаний документации и самого программного комплекса, обеспечивающего встраивание систем самодиагностики СБИС, используемого при проектировании перспективных субмикронных сверхбольших интегральных схем (СБИС) типа «система на кристалле» (СнК), которые будут применяться в последующих поколениях вычислительных систем и телекоммуникационных устройств.
Результатом работы являются выполненные в полном объёме предварительные и приёмочные испытания, и проведённая по их результатам корректировка документации и самого программно-аппаратного комплекса для разработки электронной компонентной базы на основе СБИС класса СнК, обеспечивающих тестирование в соответствии со стандартом IEEE 1149.1.
После завершения ОКР разработанный ПАК позволит разрабатывать быстро и экономически эффективно большую номенклатуру СБИС, в том числе класса “Система на Кристалле” (СнК) с уменьшенными затратами на измерения благодаря встроенным средствам самодиагностики.

Главный конструктор ОКР _______________ Зайцев В.В.