Исследования рентгенооптических явлений при взаимодействии синхротронного излученияс монокристаллами на установке: "Курчатовский источник синхротронного излучения (КИСИ) (рег. № 01-71)".

Разработан метод диагностики топологической структуры кристаллов полупроводниковых микросхем на основе метода дифракционной топографии. Выявлены границ между магнитными фазами (слабоферромагнитной и антиферромагнитной) в кристалле гематита при спин-переориентационном переходе первого рода (переходе Морина). Отработан метод рефракционной радиографии, основанный на получении изображения объекта в условиях высокого углового разрешения. Изготовлен, смонтирован и отлажен стенд для измерения EXAFS спектров. Измерена серия EXAFS-спектров сплавов на основе никеля, являющихся перспективными конструкционными материалами для атомной промышленности благодаря радиационной и коррозийной стойкости. Проведена математическая обработка спектров и получены функции псевдорадиального распределения электронной плотности.
Степень внедрения – в ходе выполнения работы разработаны экспериментальный стенд для измерения дифракционных топограмм и экспериментальный стенд для изучения атомной структуры веществ методом EXAFS-спектроскопии.
Область применения результатов – неразрушающий контроль внутренней структуры кристаллических и некристаллических объектов, исследование атомной структуры материалов