Исследование электронной структуры наноматериалов на станции фотоэмиссионной микроскопии и на станции спектроскопии рентгеновского поглощения источника синхротронного излучения Шведской национальной лаборатории MAX-Lab и на установках РНЦ КИ.

Приготовлены образцы алмазоподобных углеродных пленок, в том числе пленок, легированных ионами азота
2. Проведены исследования структурных свойств аморфных алмазоподобных углеродных пленок методом электронной микроскопии и электронографии на просвет.
3. Приготовлены образцы эпитаксиальных пленок Nd-Ce-Cu-O c ориентацией оси с перпендикулярно поверхности образца.
4. Проведены исследования структурных, сверхпроводящих и магнитных свойств эпитаксиальных пленок Nd-Ce-Cu-O c ориентацией оси с перпендикулярно поверхности образца.
5. Проведены эксперименты по отработке операции очистки поверхности эпи таксиальных пленок Nd-Ce-Cu-O, приготовленных ex situ, с контролем поверхности методом дифракции медленных электронов (LEED) на установке фотоэмиссионной микроскопии MAX-lab.
6. Проведены предварительные исследования валентной зоны эпитаксиальных пленок Nd-Ce-Cu-O на установке фотоэмиссионной микроскопии MAX-lab.
7. Проведены предварительные исследования спектров рентгеновского поглощения для квазикристаллических образцов систем Al-Cu-Fe, Zr-Pd, Zr-Pt, Ti-Zr-Ni содержащих нанокластеры, на станции спектроскопии рентгеновского поглощения (XAFS) MAX-LAb с низкоэнергетическим монохроматором.

Произведена обработка результатов экспериментов по исследованию эпитаксиальных пленок Nd-Ce-Cu-O на установке фотоэмиссионной микроскопии MAX-lab. Обработка заключалась в расшифровке результатов по дифракции медленных электронов и индентированию рефлексов. Показано, что наряду с рефлексами основной фазы, наблюдаются дополнительные рефлексы.
2. Обработаны результаты экспериментов по исследованию спектров рентгеновского поглощения для квазикристаллических образцов систем Al-Cu-Fe, Zr-Pd, Zr-Pt, Ti-Zr-Ni содержащих нанокластеры, на станции спектроскопии рентгеновского поглощения (XAFS) MAX-LAb с низкоэнергетическим монохроматором.

отчет прислан в JPEG-варианте, см. прикрепленный файл

2.1. Результаты работы на отчетном этапе, в том числе: разработанные виды продукции (веществ / устройств / программных продуктов / технологий / методов и результатов исследований) с указанием их характеристик, полу-ченных, в том числе, по результатам испытаний.
2.1.1.Проведены исследования электрических свойств аморфных алмазопо-добных углеродных пленок на установках РНЦ КИ
2.1.2. Проведены исследования структурных, сверхпроводящих и магнитных свойств эпитаксиальных пленок Nd-Ce-Cu-O c ориентацией оси с параллель-ной поверхности образца.
2.1.3. Поведена обработка XAFS спектров образцов квазикристаллических систем.
2.1.4. Проведены патентные исследования в соответствии с ГОСТ Р 15.011-96 «СРПП.
2.2. Новизна научных, конструкторских или технологических решений в сравнении с другими работами, родственными по тематике и целевому на-значению и определяющими мировой уровень.
2.2.1. Все результаты, касающиеся отжига ВТСП пленок in situ и исследова-ния изменений в их структуре поверхности, а также их электронной структу-ре являются оригинальными и проведены впервые.
2.2.2. Все результаты по изменению свойств свойств алмазоподобных угле-родных пленок, легированных ионами азота при высоких температурах яв-ляются оригинальными и проведены впервые.
2.2.3. При исследовании спектров рентгеновского поглощения для квазик-ристаллических образцов систем Al-Cu-Fe, Zr-Pd, Zr-Pt, Ti-Zr-Ni содержа-щих нанокластеры, удалось измерить спектры рентгеновского поглощения с большим разрешением, чем это делалось раньше. Сопоставление XAFS спек-тров для образцов близкого состава, но разного фазового строения в сочета-нии с результатми исследования структуры и магнитных свойств, сделанное впервые, позволило существенно продвинуться в понимании особенностей локальной структуры, характерных для квазикристаллического состояния
2.3. Особенности исследования, разработки, метода или методологии проведения работы на отчетном этапе.
При экспериментах с пленками ВТСП применена оригинальная мето-дика перемещения образцов из вакуумной установки в кислородную ампулу без контакта с атмосферой.
2.4. Объекты интеллектуальной собственности, созданные на отчетном этапе.