Развитие центра коллективного пользования научным оборудованием для обеспечения комплексных исследований в области структурной диагностики кристаллических материалов, включая нанокристаллы, биокристаллы и тонкие пленки
Проведение комплексных исследований в области структурной диагностики кристаллических материалов, включая нанокристаллы, биокристаллы и тонкие пленки.
Научно-методическое и приборное обеспечение научно-исследовательских, опытно-конструкторских и технологических работ, проводимых организациями Российской Федерации, с предоставлением возможности использования методов научных исследований, разработанных или освоенных центром коллективного пользования научным оборудованием (ЦКП).
Развитие материально-технической базы ЦКП путем дооснащения имеющихся специализированных комплексов или групп (лабораторий) приобретаемым научным оборудованием и развития новых методов выполнения измерений для обеспечения и развития исследований в форме коллективного пользования и содействия развитию сети ЦКП.
Соисполнители
Участники проекта
Этапы проекта
Проведены маркетинговые исследования, показавшие перспективность закупки комплекса и прибора. Показано, что они имеют оптимальные (с точки зрения работы по тематике ЦКП ИК РАН) параметры соотношения «цена/качество».
Заключен Государственный контракт с "В/О "Академинторг" РАН" на поставку приборов и оборудования.
Проведены научно-метрологические исследования по тематике Центра: осуществлены анализ имеющихся в ЦКП ИК РАН метрологических методов и методик; усовершенствованы существующие и разработаны новые методики; выполнена поверка приборов и оборудования Центра, составляющих с вновь закупаемым спецоборудованием комплекс физических приборов для проведения исследований в области структурной диагностики наноматериалов различной кристалличности (на основе заключенного договора с ОАО «НИЦПВ» Ростехрегулирования).
Проанализировано состояние метрологического обеспечения ЦКП ИК РАН и соответствия нормативных документов ЦКП ИК РАН современным метрологическим требованиям и нормам по обеспечению единства измерений.
Разработаны методики калибровки контрольно-измерительного оборудования ЦКП ИК РАН.
Составлены рекомендации по совершенствованию метрологического обеспечения ЦКП ИК РАН.
Проведены НИР по тематике ЦКП (в области электронной микроскопии, рентгеновской дифрактометрии, электронографии и оптических и других методов измерений), приоритетно обеспеченные приборами и оборудованием ЦКП.
Разработана Концепция и доработана Программа развития ЦКП ИК РАН на 2008-2010 гг. как структурного подразделения ИК РАН.
Количество измерений на приборах и оборудовании ЦКП составило не менее 250 в среднем на один прибор или комплекс в год.
Приобретено и установлено уникальное оборудование.
Исследованы метрологические характеристики установленного оборудования и оборудования ЦКП, составляющего с вновь закупаемым оборудованием комплекс физических приборов для проведения исследований в области структурной диагностики наноматериалов различной кристалличности.