Регистрация / Вход
Прислать материал

Создание метрологического комплекса и нормативно-методической базы для обеспечения единства измерений оптических характеристик излучателей на основе полупроводниковых многослойных наноразмерных гетероструктур (светодиодов).

Стадии проекта
Предложение принято
Конкурс завершен
Проект закончен
Проект
154-6/253
Организация
ФГУП "ВНИИОФИ"

Информация отсутствует

Этапы проекта

1
15.09.2008 - 15.11.2008
Проведен анализ и разработана структурная схема метрологического комплекса для измерения фотометрических и колориметрических характеристик светодиодов.
Развернуть
2
16.11.2008 - 25.12.2008
Создана гониофотометрическая установка для измерения пространственного распределения силы света полупроводниковых излучателей.
Развернуть
3
01.01.2009 - 30.04.2009
Создан метрологический комплекс для измерения фотометрических и колориметрических характеристик светодиодов.
Развернуть
4
01.05.2009 - 30.11.2009
Проведена аттестация метрологического комплекса для измерения фотометрических и характеристик светодиодов.
Созданы и аттестованы методики выполнения измерений фотометрических и колориметрических характеристик светодиодов.
Развернуть

Программа

Программа "Развитие инфраструктуры наноиндустрии в Российской Федерации на 2008 - 2011 годы"

Программное мероприятие

3.1 Мероприятие по развитию методической составляющей системы обеспечения единства измерений в наноиндустрии и безопасности создания и применения объектов наноиндустрии
Тема
Создание метрологического комплекса и нормативно-методической базы для обеспечения единства измерений оптических характеристик излучателей на основе полупроводниковых многослойных наноразмерных гетероструктур (светодиодов).
Продолжительность работ
2008 - 2009, 14 мес.
Бюджетные средства
35 млн
Количество заявок
1
Тема
Создание комплекса аттестованных методик и эталонных излучателей для обеспечения единства измерений фотометрических и цветовых характеристик энергосберегающей светотехники на основе светодиодов на наногетероструктурах.
Продолжительность работ
2011, 7 мес.
Бюджетные средства
18 млн
Количество заявок
1
Тема
Методы и средства метрологического обеспечения измерений пространственных и функциональных характеристик наноразмерных покрытий и гетероструктур.
Продолжительность работ
2011, 6 мес.
Бюджетные средства
19 млн
Количество заявок
1
Тема
Создание метрологического комплекса и нормативно-методической базы для обеспечения единства измерений сорбционной емкости наноструктурированных функциональных материалов.
Продолжительность работ
2008 - 2010, 24 мес.
Бюджетные средства
20 млн
Количество заявок
2
Тема
Создание комплекса аттестованных методик, стандартных образцов и мер для метрологического обеспечения оптических характеристик наноразмерных энергосберегаюших покрытий на стеклах, устройств на основе тонкопленочных фильтров и многослойных наноструктур для электроники.
Продолжительность работ
2011, 7 мес.
Бюджетные средства
15 млн
Количество заявок
1