Прислать материал
Создание метрологического комплекса и нормативно-методической базы для обеспечения единства измерений оптических характеристик излучателей на основе полупроводниковых многослойных наноразмерных гетероструктур (светодиодов).
Стадии проекта
Предложение принято
Конкурс завершен
Проект закончен
Проект
154-6/253
Организация
ФГУП "ВНИИОФИ"
Продолжительность работ
2008 - 2009, 14 мес.
Бюджетные средства
35 млн
Внебюджетные средства
0,98 млн
Информация отсутствует
Этапы проекта
1
15.09.2008 - 15.11.2008
Проведен анализ и разработана структурная схема метрологического комплекса для измерения фотометрических и колориметрических характеристик светодиодов.
2
16.11.2008 - 25.12.2008
Создана гониофотометрическая установка для измерения пространственного распределения силы света полупроводниковых излучателей.
3
01.01.2009 - 30.04.2009
Создан метрологический комплекс для измерения фотометрических и колориметрических характеристик светодиодов.
4
01.05.2009 - 30.11.2009
Проведена аттестация метрологического комплекса для измерения фотометрических и характеристик светодиодов.
Созданы и аттестованы методики выполнения измерений фотометрических и колориметрических характеристик светодиодов.
Созданы и аттестованы методики выполнения измерений фотометрических и колориметрических характеристик светодиодов.
Программа
Программа "Развитие инфраструктуры наноиндустрии в Российской Федерации на 2008 - 2011 годы"
Программное мероприятие
3.1 Мероприятие по развитию методической составляющей системы обеспечения единства измерений в наноиндустрии и безопасности создания и применения объектов наноиндустрии
профинансировано
профинансировано
Продолжительность работ
2008 - 2011, 29 мес.
Бюджетные средства
18 млн
Организация
Ассоциация "АСПЕКТ"
профинансировано
профинансировано
профинансировано