Регистрация / Вход
Прислать материал

Создание метрологического комплекса и нормативно-методической базы для измерения координат и позиционирования объектов в наноинженерии и наноэлектронике.

Стадии проекта
Предложение принято
Конкурс завершен
Проект закончен
Проект
154-6/332
Организация
МИЭТ

Информация отсутствует

Этапы проекта

1
24.10.2008 - 25.12.2008
Разработана и реализована программа дооснащения создаваемого метрологического комплекса.
Сформирована номенклатура разрабатываемой конструкторской, эксплуатационной, технологической и программной документации.
Проведены мероприятия по анализу состояния и восстановлению технических параметров аппаратурной составляющей создаваемого метрологического комплекса.
Развернуть
2
01.01.2009 - 30.06.2009
Разработаны и аттестованы методики автоматизированного измерения координат большой совокупности нанообъектов и их локальной характеризации в наноинженерии и наноэлектронике.
Создан и аттестован набор эталонных мер с периодическими массивами нанообъектов, обеспечивающих калибровку средств измерения координат объектов и их позиционирования.
Разработаны программные модули специализированного программного обеспечения для сшивки изображений.
Проведено информационно-аналитическое обеспечение работ по созданию средств и методов измерения координат в наноинженерии и наноэлектронике.
Развернуть
3
01.07.2009 - 30.11.2009
Проведены мероприятия по обеспечению единства измерений, выполняемых с помощью измерительного комплекса.
Подготовлен технический отчет.
Развернуть

Программа

Программа "Развитие инфраструктуры наноиндустрии в Российской Федерации на 2008 - 2011 годы"

Программное мероприятие

3.1 Мероприятие по развитию методической составляющей системы обеспечения единства измерений в наноиндустрии и безопасности создания и применения объектов наноиндустрии
Тема
Создание метрологического комплекса и нормативно-методической базы для измерения координат и позиционирования объектов в наноинженерии и наноэлектронике.
Продолжительность работ
2008 - 2009, 13 мес.
Бюджетные средства
25 млн
Количество заявок
1
Тема
Создание аттестованных методик и эталонных мер для обеспечения единства измерений координат и позиционирования объектов в наноинженерии и наноэлектронике.
Продолжительность работ
2011, 6 мес.
Бюджетные средства
8 млн
Количество заявок
1
Тема
Разработка и создание специализированного эталонного комплекса для аттестации и контроля средств измерений физических параметров наноразмерных объектов и структур, систем позиционирования и сканирования в нанотехнологиях и наноиндустрии.
Продолжительность работ
2007, 4 мес.
Бюджетные средства
20 млн
Количество заявок
8
Тема
Создание метрологического комплекса и нормативно-методической базы для обеспечения единства измерений сорбционной емкости наноструктурированных функциональных материалов.
Продолжительность работ
2008 - 2010, 24 мес.
Бюджетные средства
20 млн
Количество заявок
2
Тема
Создание элемента инфраструктуры Центра метрологического обеспечения и оценки соответствия нанотехнологий и продукции наноиндустрии по направлению наноинженерия.
Продолжительность работ
2008 - 2009, 14 мес.
Бюджетные средства
20 млн
Количество заявок
1