"Применение синхротроннного и лазерного излучения в создании и исследовании наноструктур и материалов со специальными свойствами".

Проведено экспериментальное исследование оптических и электрических свойств фрактальных наноструктур, возникающих при лазерном испарении различных химических веществ, включая композиты. Разработаны модели образования фрактальных наноструктур в неоднородном поле лазерного излучения. Изучены процессы самоорганизации и самосборки фрактальных структур, а также их модификации под действием лазерного излучения.
Проведено исследование влияния условий синтеза и последующей обработки гелей с нанокластерами кремния на спектральные параметры гелей. Размеры наночастиц кремния составляют от 10 до 14 нм. Величина пропускания в области короче 400 нм не хуже 5–10% при толщине слоя геля 20 микрон.
Проведены измерения спектров поглощения и фотолюминесценции в нанопористом стекле Vycor и полимерных материалах типа полипропилен (ПП); полидиметилдиоксан (ПДМС) и полиметилметакрилат (ПММА) после импрегнации в них молекул Eu(fod)3 с помощью сверхкритического CO2.
Проведены измерения спектров отражения, возбуждения и кинетики люминесценции пленок LuAP (чистых и активированных церием), YAG, активированных Ce и Tb, LuAG, активированных Ce, Tb и Yb и их комбинациями. Определены наиболее эффективные сцинтилляторы и особенности структуры дефектов, в частности, антиузельных. Экспериментальные результаты получены с использованием синхротронного излучения. Спектральная область, в которой возбуждаются фотонами пленки, составляет от 4 до 25 эВ, область исследования кинетик затухания от 1 до 180 наносекунд.
Проведено моделирование образования каскада электронных возбуждений во фториде бария при возбуждении фотонами с энергией от 90 до 140 эВ с целью объяснения тушения кросслюминесценции в области создания остовных дырок на 4d-уровне Ba. В процессе работы показано, что этот эффект связан с взаимодействием остовных дырок с вторичными валентными и другими остовными дырками, находящимися на расстояниях друг от друга не более 1 нанометра. Программа моделирования написана для выполнения на ПК.