Регистрация / Вход
Прислать материал

Разработка стандартизованной методики измерений локальной электропроводности высокоомных наноструктурированных материалов методом сканирующей зондовой микроскопии.

Стадии проекта
Предложение принято
Конкурс завершен
Проект закончен
Проект
154-6/258
Организация
ФГБОУ ВО "ДГТУ"

Информация отсутствует

Этапы проекта

1
11.09.2008 - 30.11.2008
Разработан макет установки, создана методика и средства обеспечения единства измерений локальной электропроводности наноматериалов и наноструктур с применением атомно-силового микроскопа с токопроводящими зондами.
Измеряемые параметры:
сила тока, нА;
область локализации проводимости, нм;
диапазон значений измеряемых физических величин:
0,03 - 100 нА;
1 - 100 нм;
значение неопределенности измеряемой величины:
0,0025 нА;
0,5 - 1,5 нм.
Развернуть

Программа

Программа "Развитие инфраструктуры наноиндустрии в Российской Федерации на 2008 - 2011 годы"

Программное мероприятие

3.1 Мероприятие по развитию методической составляющей системы обеспечения единства измерений в наноиндустрии и безопасности создания и применения объектов наноиндустрии
Продолжительность работ
2009 - 2011, 23 мес.
Бюджетные средства
2 млн
Организация
ФГБОУ ВО "ДГТУ"
профинансировано
Продолжительность работ
2009 - 2010, 13 мес.
Бюджетные средства
0,8 млн
Организация
НИЯУ МИФИ
профинансировано
Продолжительность работ
2012 - 2013, 12 мес.
Бюджетные средства
0,63 млн
профинансировано
Тема
Разработка стандартизованной методики измерений локальной электропроводности высокоомных наноструктурированных материалов методом сканирующей зондовой микроскопии.
Продолжительность работ
2008, 2 мес.
Бюджетные средства
1 млн
Количество заявок
1
Тема
Создание функционирующего в режиме удаленного доступа интерактивного учебно-научного комплекса для выполнения работ по исследованию органических и биологических наноструктурированных материалов, объектов и систем методами сканирующей зондовой микроскопии.
Продолжительность работ
2010 - 2011, 12 мес.
Бюджетные средства
21 млн
Количество заявок
2
Тема
Создание адаптивных микроприводов на базе материалов с эффектом памяти формы для изготовления зондов сканирующих зондовых микроскопов.
Продолжительность работ
2008 - 2009, 14 мес.
Бюджетные средства
20 млн
Количество заявок
1
Тема
Создание функционирующего в режиме удалённого доступа интерактивного учебно-научного комплекса для выполнения работ по исследованию наноструктурированных неорганических материалов с использованием сканирующего туннельного микроскопа и его виртуального симулятора.
Продолжительность работ
2010 - 2011, 12 мес.
Бюджетные средства
21 млн
Количество заявок
2
Тема
Разработка методов терагерцовой когерентной спектроскопии для диагностики нано-объектов, создание и испытание лабораторного образца терагерцового сканирующего зондового микроскопа-спектрометра.
Продолжительность работ
2008 - 2009, 14 мес.
Бюджетные средства
10 млн
Количество заявок
2