Прислать материал
Разработка стандартизованной методики измерений локальной электропроводности высокоомных наноструктурированных материалов методом сканирующей зондовой микроскопии.
Стадии проекта
Предложение принято
Конкурс завершен
Проект закончен
Проект
154-6/258
Организация
ФГБОУ ВО "ДГТУ"
Продолжительность работ
2008, 2 мес.
Бюджетные средства
1 млн
Внебюджетные средства
0 млн
Конкурс
Разработка стандартизованной методики измерений локальной электропроводности высокоомных наноструктурированных материалов методом сканирующей зондовой микроскопии.
Информация отсутствует
Этапы проекта
1
11.09.2008 - 30.11.2008
Разработан макет установки, создана методика и средства обеспечения единства измерений локальной электропроводности наноматериалов и наноструктур с применением атомно-силового микроскопа с токопроводящими зондами.
Измеряемые параметры:
сила тока, нА;
область локализации проводимости, нм;
диапазон значений измеряемых физических величин:
0,03 - 100 нА;
1 - 100 нм;
значение неопределенности измеряемой величины:
0,0025 нА;
0,5 - 1,5 нм.
Измеряемые параметры:
сила тока, нА;
область локализации проводимости, нм;
диапазон значений измеряемых физических величин:
0,03 - 100 нА;
1 - 100 нм;
значение неопределенности измеряемой величины:
0,0025 нА;
0,5 - 1,5 нм.
Программа
Программа "Развитие инфраструктуры наноиндустрии в Российской Федерации на 2008 - 2011 годы"
Программное мероприятие
3.1 Мероприятие по развитию методической составляющей системы обеспечения единства измерений в наноиндустрии и безопасности создания и применения объектов наноиндустрии
Исследование электрофизических свойств тонких высокоомных пленок состава (SiC)1-x(AIN)х методами сканирующей зондовой микроскопии
профинансировано
профинансировано
Разработка алгоритмов цифрового управления для сканирующих зондовых микроскопов
профинансировано
Разработка технологии формирования нанокомпозитов на основе диэлектрических матриц с включениями в виде углеродных нанотрубок с управляемыми характеристиками в СВЧ-диапазоне и создание сканирующего зондового ближнеполевого СВЧ-микроскопа, обеспечивающего локальное измерение СВЧ-характеристик нанокомпозитов
Продолжительность работ
2011 - 2013, 30 мес.
Бюджетные средства
2,91 млн
профинансировано
Исследование мемристивного эффекта в пленках диоксида ванадия методами сканирующей зондовой микроскопии
Продолжительность работ
2012 - 2013, 12 мес.
Бюджетные средства
0,63 млн
профинансировано