Разработка стандартизованной методики измерений локальной электропроводности высокоомных наноструктурированных материалов методом сканирующей зондовой микроскопии.

Разработан макет установки, создана методика и средства обеспечения единства измерений локальной электропроводности наноматериалов и наноструктур с применением атомно-силового микроскопа с токопроводящими зондами.
Измеряемые параметры:
сила тока, нА;
область локализации проводимости, нм;
диапазон значений измеряемых физических величин:
0,03 - 100 нА;
1 - 100 нм;
значение неопределенности измеряемой величины:
0,0025 нА;
0,5 - 1,5 нм.