Регистрация / Вход
Прислать материал

Создание метрологического комплекса и нормативно-методической базы для обеспечения единства измерений параметров многослойных наноструктур для фотоприемников и оптических фильтров.

Стадии проекта
Предложение принято
Конкурс завершен
Выполнение этапа проекта
Проект
154-6/293
Организация
ФГУП "ВНИИОФИ"

Информация отсутствует

Этапы проекта

1
11.09.2008 - 31.12.2008
Разработаны методы измерений, структурная схема, эксплуатационная техническая документация, блоки и узлы метрологических каналов синхротронного излучения.
Созданы методы, блоки и узлы рабочих эталонов (РЭ) спектральной плотности энергетической освещенности (СПЭО) на основе высокоточных спектрорадиометров, интегральных и многоканальных радиометров в диапазоне длин волн 1-400 нм для метрологических каналов синхронного излучения с энергией 450 МэВ.
Созданы прецизионные многоканальные радиометры энергетической освещенности (ЭО) в диапазоне длин волн 10-400 нм.
Проведены анализ оптических характеристик многослойных наноструктур, теоретические и экспериментальные исследования динамики оптических характеристик, спектральных и интегральных коэффициентов отражения и пропускания.
Выполнены измерения абсолютной спектральной чувствительности (АСЧ) фотодиодоп с многослойными покрытиями для проведения международных сличений результатов измерений.
Развернуть
2
01.01.2009 - 31.07.2009
Созданы метрологические каналы синхротронного излучения, испытаны узлов и блоков радиационной и вакуумной защиты.
Проведены измерения АСЧ и спектральных коэффициентов отражения комплекта приемников с многослойными наноструктурами.
Разработан РЭ ЭО с высоким пространственным разрешением на основе ПЗС-матрицы с обратной экспозицией в диапазоне длин волн 1-400 нм для исследования зонных характеристик многослойных наноструктур.
Разработаны методs, комплект гониометров и проведены экспериментальные исследования по оптической диагностике наноструктур в области ближнего ультрафиолета.
Разработаны проекты программ по проведению совместных исследований и сличений эталонных средств УФ спектрорадиометрии с ведущими метрологическими центрами и центрами синхротронного излучения.
Разработаны методики выполнения измерений интегральных характеристик многослойных наноструктур, методик поверки, калибровки и испытаний многоканальных радиометров, спектрорадиометров и интегральных радиометров.
Развернуть
3
01.08.2009 - 31.12.2009
Созданы системы диагностики и мониторинга параметров электронного сгустка метрологических каналов синхротронного излучения, рассчитаны спектральныхэнергетические характеристики синхротронного излучения.
Произведены измерения АСЧ, спектральных коэффициентов отражения комплекта приемников с многослойными наноструктурами в диапазоне длин волн 1-400 нм, ЭО источников УФ излучения с использованием синхротронного излучения.
Создан РЭ коэффициентов спектрального и диффузного отражения в диапазоне длин волн 1-200 нм для метрологического канала синхротронного излучения с энергией 2 ГэВ.
Разработаны эталонные приемники вакуумного ультрафиолетового излучения на основе двойной ионизационной камеры в диапазоне длин волн 1-100 нм.
Проведены исследования пороговых характеристик аппаратуры при измерении распределения ЭО.
Разработаны методы измерений, комплект гониометров и проведены экспериментальные исследования по оптической диагностике наноструктур в области вакуумного ультрафиолета 100-200 нм.
Проведены совместные исследования с ведущими метрологическими центрами и центрами синхротронного излучения в соответствии с разработанными программами.
Разработан проект стандарта на Государственную поверочную схему для средств измерений потока излучения и энергетической освещенности в диапазоне длин волн 1-400 нм.
Разработаны методики выполнения измерений, поверки и калибровки и испытаний рефлектометров.
Развернуть
4
01.01.2010 - 30.06.2010
5
01.07.2010 - 30.11.2010

Программа

Программа "Развитие инфраструктуры наноиндустрии в Российской Федерации на 2008 - 2011 годы"

Программное мероприятие

3.1 Мероприятие по развитию методической составляющей системы обеспечения единства измерений в наноиндустрии и безопасности создания и применения объектов наноиндустрии
Тема
Создание метрологического комплекса и нормативно-методической базы для обеспечения единства измерений параметров многослойных наноструктур для фотоприемников и оптических фильтров.
Продолжительность работ
2008 - 2010, 26 мес.
Бюджетные средства
114 млн
Количество заявок
1
Тема
Создание комплекса аттестованных методик, стандартных образцов и мер для метрологического обеспечения оптических характеристик наноразмерных энергосберегаюших покрытий на стеклах, устройств на основе тонкопленочных фильтров и многослойных наноструктур для электроники.
Продолжительность работ
2011, 7 мес.
Бюджетные средства
15 млн
Количество заявок
1
Тема
Создание метрологического комплекса и нормативно-методической базы для обеспечения единства измерений магнитных параметров наноструктур, материалов и продукции наноиндустрии
Продолжительность работ
2008 - 2010, 27 мес.
Бюджетные средства
103 млн
Количество заявок
1
Тема
Создание метрологического комплекса и нормативно-методической базы для обеспечения единства измерений локальных 3D параметров поверхности в нанометровом диапазоне
Продолжительность работ
2008 - 2010, 27 мес.
Бюджетные средства
55 млн
Количество заявок
1
Тема
Создание метрологического комплекса и нормативно-методической базы для обеспечения единства измерений сорбционной емкости наноструктурированных функциональных материалов.
Продолжительность работ
2008 - 2010, 24 мес.
Бюджетные средства
20 млн
Количество заявок
2