Регистрация / Вход
Прислать материал

Создание метрологического комплекса и нормативно-методической базы для обеспечения единства измерений локального химического состава и структурных параметров функциональных наноматериалов и изделий наноиндустрии

Стадии проекта
Предложение принято
Конкурс завершен
Выполнение этапа проекта
Проект
154-6/340
Организация
МФТИ

Информация отсутствует

Этапы проекта

1
24.10.2008 - 25.12.2008
Произведены выбор и обоснование оборудования для измерений элементного состава и структурных параметров нанообъектов.
Проведен анализ состояния нормативной базы и разработка номенклатуры нормативно-технических документов по обеспечению единства измерений выполняемых на создаваемом комплексе.
Развернуть
2
01.01.2009 - 30.06.2009
Проведен анализ состояния оборудования для измерений локального химического состава и структурных параметров нанообъектов.
Подготовлено оборудование к проведению измерений элементного состава и структурных параметров нанообъектов.
Разработаны методики калибровки оборудования, входящего в состав метрологического комплекса для измерения локального химического состава и структурных параметров наноматериалов с использованием стандартных образцов.
Получены наноматериалы для изготовления стандартных образцов по согласованной номенклатуре и исследованы их параметров.
Разработаны методики калибровки оборудования.
Развернуть
3
01.07.2009 - 25.12.2009
Разработаны методики выполнения измерений локального химического состава нанообъектов.
Проведены измерения локального химического состава стандартных образцов.
Аттестованы методики калибровки оборудования измерительного комплекса.
Развернуть
4
01.01.2010 - 30.06.2010
5
01.07.2010 - 30.11.2010

Программа

Программа "Развитие инфраструктуры наноиндустрии в Российской Федерации на 2008 - 2011 годы"

Программное мероприятие

3.1 Мероприятие по развитию методической составляющей системы обеспечения единства измерений в наноиндустрии и безопасности создания и применения объектов наноиндустрии
Тема
Создание метрологического комплекса и нормативно-методической базы для обеспечения единства измерений локального химического состава и структурных параметров функциональных наноматериалов и изделий наноиндустрии
Продолжительность работ
2008 - 2010, 25 мес.
Бюджетные средства
85 млн
Количество заявок
1
Тема
Создание метрологического комплекса и нормативно-методической базы для обеспечения единства измерений локальных 3D параметров поверхности в нанометровом диапазоне
Продолжительность работ
2008 - 2010, 27 мес.
Бюджетные средства
55 млн
Количество заявок
1
Тема
Создание метрологического комплекса и нормативно-методической базы для обеспечения единства измерений сорбционной емкости наноструктурированных функциональных материалов.
Продолжительность работ
2008 - 2010, 24 мес.
Бюджетные средства
20 млн
Количество заявок
2
Тема
Создание метрологического комплекса и нормативно-методической базы для обеспечения единства измерений при оценке соответствия наноструктурных ядерных и функциональных материалов для атомной энергетики.
Продолжительность работ
2008 - 2010, 25 мес.
Бюджетные средства
70 млн
Количество заявок
1
Тема
Метрологическое обеспечение измерений размерных параметров наночастиц и тонких пленок методами малоугловой рентгеновской дифрактометрии.
Продолжительность работ
2011, 6 мес.
Бюджетные средства
12 млн
Количество заявок
1