Регистрация / Вход
Прислать материал

Создание метрологического комплекса и нормативно-методической базы для обеспечения единства измерений состава, структуры и свойств конструкционных наноматериалов.

Стадии проекта
Предложение принято
Конкурс завершен
Выполнение этапа проекта

Информация отсутствует

Этапы проекта

1
24.10.2008 - 25.12.2008
Определены методы и средства контроля характеристик, обеспечивающих прослеживаемость параметров нанообъектов и наноматериалов, включая их структуру, химический состав, геометрию, физические и механические свойства к единицам измерения соответствующих государственных стандартных образцов
Развернуть
2
01.01.2009 - 30.06.2009
Отработаны режимы изготовления стандартных образцов, разработаны методики выполнения измерений.
Проведены патентные исследования для определения патентной чистоты разрабатываемых методов и средств контроля.
Развернуть
3
01.07.2009 - 25.12.2009
Разработаны методики:
- определения магнитных свойств (коэрцитивной силы, магнитной проницаемости, индукции насыщения) ферромагнитных и азотсодержащих аустенитных наноструктурированных конструкционных сталей и Функциональных наноматериалов на основе магнитомягких сплавов в диапазоне:
Нc =0, 1÷ 2000 А/м,
μ = 1.002÷1000000,
Bs = 0.5÷2.2 Тл;
- получения, классификации и разделения на узкие по размерам фракции (с шагом не более 20 м) нанопорошков металлов W, Мо, Ni, Со, Zn, Сu, Nb в диапазоне 20-100 нм, оксидов: А12О3, ТiO2 ZrО2 в диапазоне 50-200 нм, карбидов: ТаС, NbC, TiCxNy в диапазоне 30-200 нм и нитридов: TiN в диапазоне 30-200 нм;
- определения величины удельной поверхности в диапазоне 0,5-100 м2/г нанопористых материалов системы «никель-алюминий» и «Al-Аl2О3»
Аттестация методик:
- рентгенофлуоресцентного анализа содержания металлов в наномодифицированных антифрикционных полимерных металлсодержащих композитах с пределом обнаружения до 0,005 % масс;
- идентификации локального фазового состава с помощью анализатора картин дифракции обратно отраженных электронов с локальностью до 20 нм.
Развернуть
4
01.01.2010 - 30.06.2010
5
01.07.2010 - 30.11.2010

Программа

Программа "Развитие инфраструктуры наноиндустрии в Российской Федерации на 2008 - 2011 годы"

Программное мероприятие

3.1 Мероприятие по развитию методической составляющей системы обеспечения единства измерений в наноиндустрии и безопасности создания и применения объектов наноиндустрии
Тема
Создание метрологического комплекса и нормативно-методической базы для обеспечения единства измерений состава, структуры и свойств конструкционных наноматериалов.
Продолжительность работ
2008 - 2010, 25 мес.
Бюджетные средства
0 млн
Количество заявок
1
Тема
Создание метрологического комплекса и нормативно-методической базы для обеспечения единства измерений сорбционной емкости наноструктурированных функциональных материалов.
Продолжительность работ
2008 - 2010, 24 мес.
Бюджетные средства
20 млн
Количество заявок
2
Тема
Создание комплекта аттестованных методик, стандартных образцов и мер для метрологического обеспечения измерений состава, структуры и свойств высокопрочных наноструктурированных конструкционных сталей и сплавов.
Продолжительность работ
2011, 6 мес.
Бюджетные средства
22 млн
Количество заявок
1
Тема
Создание метрологического комплекса и нормативно-методической базы для обеспечения единства измерений наноматериалов при производстве высокоэнергетических магнитов и высокоемких танталовых конденсаторов для энергетики, транспорта и связи.
Продолжительность работ
2008 - 2009, 13 мес.
Бюджетные средства
20 млн
Количество заявок
1
Тема
Создание метрологического комплекса и нормативно-методической базы для обеспечения единства измерений при оценке соответствия наноструктурных ядерных и функциональных материалов для атомной энергетики.
Продолжительность работ
2008 - 2010, 25 мес.
Бюджетные средства
70 млн
Количество заявок
1