Разработка новых высокочувствительных радиоволновых и оптических методов измерения параметров наноструктур и материалов.
Стадии проекта
Предложение принято
Конкурс завершен
Выполнение этапа проекта
Проект
02.442.11.7184
Продолжительность работ
2005, 1 мес.
Бюджетные средства
0,36 млн
Внебюджетные средства
0 млн
Информация отсутствует
Этапы проекта
1
27.10.2005 - 25.11.2005
• Предложена и экспериментально реализована методика неразрушающего многопараметрового контроля электрофизических параметров нанометровых структур металл-полупроводник и металл-диэлектрик с использованием спектров отражения и прохождения электромагнитной волны.
• Проведены теоретические и экспериментальные исследования особенностей взаимодействия излучения микроволнового и оптического диапазонов с металлополупроводниковыми и металлодиэлектрическими структурами.
• Созданы новые типы измерителей толщины и электропроводности металлических плёнок на полупроводниковых и диэлектрических подложках: «Установка для контроля параметров тонких пленок МИИ-4 Видео» и «СВЧ-измеритель толщины покрытий СИТ-40 М», позволяющих контролировать параметры металлических слоев в диапазоне толщин от 10 нм до 10 мкм.
• Проведены исследования особенностей взаимодействия электромагнитного излучения с многокомпонентными средами на основе наноразмерных ферромагнитных кластерных образований.
• Показано, что учет действительной и мнимой компонент магнитной восприимчивости и от температуры, полученных при использовании в теории динамического намагничивания однодоменной частицы во внутреннем поле анизотропии и внешнем намагничивающем поле предположения о полной магнитной изотропии частиц и их идентичности, позволяет добиться вполне удовлетворительного согласия между экспериментальными данными и теоретическими расчетами влияния температуры на частотную зависимость коэффициента отражения электромагнитной волны от слоя магнитной жидкости.
• Разработана высокочувствительная измерительная система на основе синхронизированных генераторов, позволяющая резко повысить чувствительность существующих и разрабатывать новые высокочувствительные методы измерения параметров материалов и структур.
• Разработан метод определения амплитуд механических колебаний объекта по спектру автодинного сигнала полупроводникового лазера с использованием двух соседних гармоник автодинного сигнала, позволяющий уменьшить нижний порог измеряемых абсолютно амплитуд вибрации.
• Показано, что с помощью квантоворазмерного полупроводникового лазера, работающего в режиме автодинного генератора, возможно контролировать движение объектов с малыми скоростями при условии возбуждения в измеряемом объекте колебаний с амплитудой большей, чем половина длины волны лазерного излучения.
• Проведены теоретические и экспериментальные исследования особенностей взаимодействия излучения микроволнового и оптического диапазонов с металлополупроводниковыми и металлодиэлектрическими структурами.
• Созданы новые типы измерителей толщины и электропроводности металлических плёнок на полупроводниковых и диэлектрических подложках: «Установка для контроля параметров тонких пленок МИИ-4 Видео» и «СВЧ-измеритель толщины покрытий СИТ-40 М», позволяющих контролировать параметры металлических слоев в диапазоне толщин от 10 нм до 10 мкм.
• Проведены исследования особенностей взаимодействия электромагнитного излучения с многокомпонентными средами на основе наноразмерных ферромагнитных кластерных образований.
• Показано, что учет действительной и мнимой компонент магнитной восприимчивости и от температуры, полученных при использовании в теории динамического намагничивания однодоменной частицы во внутреннем поле анизотропии и внешнем намагничивающем поле предположения о полной магнитной изотропии частиц и их идентичности, позволяет добиться вполне удовлетворительного согласия между экспериментальными данными и теоретическими расчетами влияния температуры на частотную зависимость коэффициента отражения электромагнитной волны от слоя магнитной жидкости.
• Разработана высокочувствительная измерительная система на основе синхронизированных генераторов, позволяющая резко повысить чувствительность существующих и разрабатывать новые высокочувствительные методы измерения параметров материалов и структур.
• Разработан метод определения амплитуд механических колебаний объекта по спектру автодинного сигнала полупроводникового лазера с использованием двух соседних гармоник автодинного сигнала, позволяющий уменьшить нижний порог измеряемых абсолютно амплитуд вибрации.
• Показано, что с помощью квантоворазмерного полупроводникового лазера, работающего в режиме автодинного генератора, возможно контролировать движение объектов с малыми скоростями при условии возбуждения в измеряемом объекте колебаний с амплитудой большей, чем половина длины волны лазерного излучения.
Программа
Программа "Исследования и разработки по приоритетным направлениям развития науки и техники" на 2002-2006 годы
Программное мероприятие
1.9 Проведение молодыми учеными научных исследований по приоритетным направлениям науки, высоких технологий и образования
Новый метод и аппаратура для оптического мониторинга технологических параметров при формировании пленочных наноструктур
профинансировано
Разработка методов и создание средств измерений оптических параметров полупроводниковых лазеров на основе квантоворазмерных наногетероструктур.
профинансировано
Продолжительность работ
2008 - 2011, 30 мес.
Бюджетные средства
18 млн
Организация
Физический факультет МГУ
профинансировано
Продолжительность работ
2008 - 2011, 30 мес.
Бюджетные средства
93,2 млн
Организация
ИППМ РАН
профинансировано
Продолжительность работ
2008 - 2010, 26 мес.
Бюджетные средства
98,72 млн
Организация
ФГУП "ВНИИОФИ"
профинансировано